「日本电色工业株式会社NIPPON DENSHOKU 高精度分光色度仪SD7000」价格、参数、图片

1. 5nm光谱间隔测定

最小波长间隔5nm，符合ISO,ASTM以及JIS标准，

依靠高精度光谱分离单元和256elements图像传感器来完成小间隔光谱测定。

2. 储存设计

利用专用色彩软件通过电脑实施操作，数据准确可靠且易存储。

3. SCI/SCE测定

SCI（包括镜面光泽）

SCE（不包括镜面光泽）

可适合测定需要或不需要镜面光泽的样品，如有反光或高金属光泽的物体。

4. 显著的稳定性

该仪器安装了强光照明的闪光氙灯，稳定了光谱特征，所以测定有很好的稳定性。

5. 能见度测试室，两种类型门设计（可选择）

设计两种类型门，可以测定大样品或者小样品，可以测定超大样品而不需剪裁，操作时间也可以保存。

6. 色度管理软件

色度管理软件在分析色度数据方面有很大的优越性，数据以表格的形式显示出来，方便查看和编辑。

测定方式	可进行反射和透射测定，SCI（包括镜面光泽），SCE（不包括镜面光泽）和是否包含UV测定
照明/受光条件	积分球（150mmφ）反射率测定：扩散照明/8°受光（d/8、D/8切换方式）透过率测定：扩散照明/0°受光（D/0方式）可进行SCI（包括镜面光泽）/SCE（不包括镜面光泽）自动切换的测定也可进行分光测定（后分光方式）和是否包含UV的测定
测定方式	双光束测定法（测定光，参照光）和全波长光束同时补偿测定法
测试直径	反射测量φ6.4mm、φ12.7mm、φ25.4mm、透射测量φ25mm
测定范围	380nm～780nm 5nm间隔测量
测定间隔	5nm
受光元件	CMOS线性图像传感器（256像素点）
分光单元	衍射光栅
测定精度	在常温常湿条件下，开机预热20分钟后；以10秒的间隔连续测量30次，⊿E*重复性在0.03以内，分光光谱曲线重复性在0.1以内。
测定用时	3秒以内
测定使用光源	D65、C、A、F6、F8、F10，视角有2°和10°视角
显示项目	Lab* E、⊿LabE 、LabE、⊿LabE、XYZ、 Yxy、YI、WI、WB、⊿YI、⊿WI、⊿WB、LCH、⊿LCH、CMC2:1、 CMC1:1、E94、LCH、HVC、APHA、Gardner分光反射率曲线、分光光谱曲线、偏色判定图和各种色系图等等
标准数据设定	XYZ,Lab*，分光光谱反射率
光源	长寿命闪光氙灯
重量	约14kg
电源	100V-240V AC，50/60Hz
尺寸	316.4mmW×462.4mmD×251.4mmH
标准	符合 JIS Z 8722，ASTM E 308， ASTM E 313，ISO7724,DIN 5033,ASTM D 2244

日本电色工业株式会社NIPPON DENSHOKU 高精度分光色度仪SD7000

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