ATR衰减全反射探头

衰减全反射 ATR Probe


Attenuated Total Reflectance Probe ATR探头是测量吸光率在4000-5000 AU/cm 的样品的理想产品。它能够直接插入样品中，不需要稀释样品就能获得光谱。典型的应用包括纯墨水样品、染色样品和原油样品的测量。另外，如果探头顶部的接触样品的折射率大于ATR探头的蓝宝石晶体的折射率，或大于1.7，ATR探头可用作通用探头。

ATR探头被设计用于工业过程应用，曾经在10,000psig的环境下接受测试。ATR探头可以在最大315C的温度下工作。ATR探头是个经过三次反射的探头，并且可以穿透被测量波长的衰逝波/倏逝波。

应用场景

ATR(attenuated total reflection,衰减全反射),
定义：入射面内偏振的单色平面光波在密－疏媒质的界上全反射时，光疏媒质中所形成的迅衰场（见衰减波）量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离元（SP）或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。
利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。
应用：ATR在实际应用中，作为红外光谱法的重要实验方法之一，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要通过透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成份的结构信息。不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围。使许多采用传统透过法无法制样，或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。