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热膨胀/导热系数综合测量系统DIL-TCI

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详细介绍

C-Therm公司提供的zuixin研发的热膨胀仪 DIL-TCi,采用多模块化设计(测量导热和热膨胀参数),一机多用且具备优异的性能以满足对于测量系统的各类要求。

独有的高品质位移传感器(LVDT),马达自动控制技术,样品可任意长度
LVDT系统和固定支架之间采用精密轴承垂直悬挂设计,以减少测量系统摩擦力
自动驱动样品和零位调节技术,消除螺旋千分尺由于测量头真空和密闭产生的敏锐误差
炉体外置风扇技术,可以快速降温;高级绝热技术,炉体外壳保持室温,保证操作者的安全
流线型水平模式设计,测试稳固,受环境震动影响最小化
水平模式,可测量固体,薄膜、粉末、膏状等样品
可以快速更换炉体和各种测量系统


技术参数

DIL 热膨胀系统
温度范围 RT - 1200/1600℃
升降温速率 0 - 50 K/min
样品支架 石英支架,氧化铝支架
测量范围 4000 μm
样品数量 单杆/双杆
样品长度 最大 50 mm
样品直径 最大 12 mm
分辨率 1.25 nm
顶杆压力 0.3-1.2N
零位调节 软件自动
气氛 惰性、氧化、真空、静态、动态

TCI导热系数系统
温度范围 -50200℃
导热系数范围 0-220W/mK
测试时间 0.8-2.5s
样品尺寸 直径:≥17mm;厚度:不限
最小厚度:0.5mm 根据材料热导性而异
测量精度 ≤1%
准确度 ≤5%
认证书 FCC,CE,CSA

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