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USPMⅢ镜片反射率测定仪

品牌：日本奥林巴斯
型号： USPMⅢ
产地：亚洲日本
供应商报价：面议

仪景通光学科技（上海）有限公司更新时间：2022-03-25 14:00:03

销售范围售全国

入驻年限第10年

营业执照已审核

详细介绍

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪　

●概要
ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
●特征
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短　
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
●主要用途
各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
●与原产品的主要区别
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
电源规格可对应AC100V以及AC220V。
(请您在下订单时注明电源规格。)
优化了软件的功能。（可显示10次测定的功能等）
XY受台移动方向增加了比例尺。
更换卤灯时不需调整灯的位置。
ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。

●USPM-RUⅢ测定画面图例

●主要规格

测定波长	380nm～780nm
测定方法	与参照试料的比较测定
被测物N.A.	0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) ※与对物镜的N.A不同
被测物W.D.	10.1mm(使用10×对物镜时) 3.1mm(使用20×对物镜时)
被测物的曲率半径	-1R～-∞、+1R～∞
被测物的测定范围	约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时)
被测物再现性	±0.1%以下(2σ)（380nm～410nm测定时） ±0.01%以下(2σ)(410nm～700nm测定时)
表示精度	1nm
测定时间	数秒～十数秒(因取样时间各异）
光源规格	卤灯 12V100W
装置重量	本体：约20kg(电脑、打印机除外) 光源用电源：约3kg、控制器：8kg
装置尺寸	本体：300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用电源：150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒：220(W)×250(D)×140(H)mm
电源规格	光源用电源：100V (2.8A)/220V　AC 控制器盒：100V(0.2A)/220V　AC
使用环境	水平且无振动的场所温度：23±5℃ 湿度：60％以下、无结露
软件	■测定参数设定保存环境文档、可读取分光反射率测定设定参考值(固定值、分散式、可选择文档数据) 取样时间设定判定是否合格波长方向刻度 ■物体颜色测定ＸＹ色度图、Lab*色度图标准光源设定(A、B、C、D65) 视野设定(2°视野、10°视野) ■膜厚(单层膜)测定镀膜材料折射率
*作为特别订货，可对应测定波长为440nm～840nm。