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瑞典XCounter PDT25-DE X射线设备

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详细介绍

产品描述:PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
 
PDT25-DE可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE先进之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
 
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XPVista Windows7Windows8系统平台上。
 
应用
*小范围辐照  
*小动物成像 
*实验室样品和标本成像 
*反向散射成像  
*工业检测(NDT
 
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XPWindows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数

 

物理参数



尺寸 L×W×H


94×54×20mm

重量


150g235g 带钨防护)

温度控制


内部的珀尔帖效应温度控制

环境温度


+15 - +45

储藏温度


-10 - +50 @ 10% -95% 湿度

最大消耗功率


10W

射线窗


碳纤维, 250μm

射线屏蔽


根据应用




传感器



传感器类型


双能光子计数 CdTe-CMOS

传感器厚度


0.75mm-2.0mm CdTe

有效面积


25.6×25.6 mm2

像素


100μm

像素填充率


100%




性能



帧率


最高35fps

动态范围


12 bits

成像时间


100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间)

DQE0
Detective Quantum Efficiency


85%@RQA5 spectra

MTF
Modulation Transfer Function


80% @ 2lp/mm
45% @ 5lp/mm

KV范围


15-140 kVp

内部测试图样


Pseudo-random debug pattern

外部触发输出


3-3 V TTL

输入


3-15V

滞后


0%

拖影


0.1%  X射线开启后1分钟(12μGy


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