C型X射线线阵相机 C9750-27FCC
双能X射线线阵相机 C10800-04ECH
X射线线阵扫描相机 C14300-05U
X射线线阵扫描相机 C14300-08U
X射线线阵扫描相机 C14300-12U
X射线线型扫描相机C14300-05U可对被检测物体进行高灵敏度、高分辨率的透明x射线成像。由于该设备可在不接触或不破坏被检测对象的前提下，观察到肉眼看不见的物体内部，因此适用于广泛的x射线内部检测，例如检测食物中是否含有异物、检测电子元件合格率等。
C14300系列在检测样品厚薄程度中广泛使用。
| 产品名称 | x线扫描照相机 |
| 产品型号 | C14300-05U |
| 检测方式 | Scintillator method |
| 闪烁体 | Gd type scintillator |
| 推荐使用范围 | Approx. 25 kV to 160 kV |
| 传感器像素间距 | 0.4 mm |
| 探测宽度 | 256 mm: 640 pixels |
| 线速度 | 4 m/min to 200 m/min |
| A/D转换器 | 14 bit |
| 外部控制接口 | USB 3.0 |
| 环境工作温度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
| 环境储存温度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
| 环境工作湿度 | 30 % to 70 % (With no condensation) |
| 电源 | DC +24 V |
● 高速
兼容200米/分钟的高速检测
● 高动态范围
可检测低至高x射线剂量
● 低噪声
高信噪比成像、低x线剂量
● 体积小
占用面积更小
● 防水/防尘
可在开机状态下清洗
| 产品型号 | C14300-05U |
|---|---|
| 检测方式 | Scintillator method |
| 检测方式 | Gd type scintillator |
| 推荐使用范围 | Approx. 25 kV to 160 kV |
| 传感元件间距 | 0.4 mm |
| 检测宽度 | 256 mm: 640 pixels |
| 线路速度 | 4 m/min to 200 m/min |
| A/D 转换 | 14 bit |
| 接口 | USB 3.0 |
| 工作温度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
| 存储温度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
| 工作湿度 | 30 % to 70 % (With no condensation) |
| 供电电压 | DC +24 V |
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X15213-03CR 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅上液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
X15213-03CL 是一款仅有反射相的空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，可通过 CMOS 芯片的寻址电压直接控制液晶 (LC) 分子，并且可以高精度、高速调制光束的波前。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
LCOS 芯片中的失真（如 LC 的波前失真和非线性响应）可通过控制器进行高效校正。使用 X15213 系列可实现简便的 PC 控制、精确的线性相位调制特性。它们还可以提供高衍射效率和高光利用率。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
X15213 系列设备是一种反射型纯相位空间光调制器 (SLM)，基于硅基液晶 (LCOS) 技术，其中液晶 (LC) 直接由电压进行准确控制，并且可以调制光束的波前。
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