二手 FEI Helios 450 聚焦离子束扫描电子显微镜 FIB-SEM

FEI Helios400/450，堪称微观世界的 “超级鹰眼”。

其超高的分辨率，能够让您清晰地洞察到纳米级别的微观结构。

在半导体芯片研发领域，它可以精准地检测出芯片表面的微小瑕疵、杂质颗粒以及线路的细微缺陷，确保芯片的高质量生产，为电子产品性能的提升奠定坚实基础。对于材料科学研究而言，Helios400/450 能够深入剖析新型材料的晶体结构、相分布以及界面特性，助力材料学家研发出具有卓越性能的新材料，推动材料科学的创新发展。