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徕卡LAS X ID Modules分析软件 清洁度专家

联系方式:徕卡显微系统400-630-7761

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详细介绍

可快速简单地进行过滤颗粒计数

徕卡LAS X ID Modules分析软件清洁度专家

您的成功取决于是否能通过高质量产品获得客户满意度。零部件的清洁度决定产品的性能、使用寿命和整体质量。 

ISO、VDA 和 SAE 等汽车和其他行业的国际和地区标准日益严格,必须进行严格的清洁度分析才能确保合规性。 

清洁度专家 软件是一种使用简单的高质量解决方案,可根据您的应用需求提供可靠、可重复的分析结果。

因为清洁度很重要

  • 通过多样品测量改善工作流程 

  • 满足国际、国家标准以及个性化要求

  • 通过激光光谱获得用于识别污染源的更多信息

管理多个样品

同时分析多个样品,提高工作流程效率,借助自动化颗粒分析简化您的过程。例如,将来自一个过滤过程的多个过滤样品组合到一个单一批次进行分析,并为每个过滤器分配不同的颗粒分类设置。轻松生成报告,共享您的结果。


现在,您可以

在每个批次中一次分析多个过滤器,节省时间

设置不同的颗粒分类参数,例如每种过滤器的长度和宽度限值

以圆形或矩形扫描图形进行测量

使用显微镜进行除技术清洁度分析以外的其他任务

符合甚至超越标准

检查是产品安全的重要步骤,对于产品的可靠性和标准合规性非常关键。为了获得必要的证明书,记录零部件的清洁度至关重要。


清洁度专家 软件有助于

按照各种国际和国家标准对您的技术清洁度进行分类 

兼顾个性化要求

通过存储和调用功能获得可靠、可重复的结果

通过测量颗粒高度,而不仅仅是长度和宽度,全面测定颗粒造成损害的可能性

根据外部或内部标准快速生成报告

识别污染源 

何必费心搜寻 – 分析全搞定! 

假如您可以将目视检查和化学检查组合在一个工作流程解决方案中,将会为污染源识别带来莫大的帮助。清洁度专家 软件与独特的全新激光诱导击穿光谱 (LIBS) 系统相结合,为您带来灵活的二合一分析解决方案。轻松快速地掌握污染的更多信息,为您的业务带来决策优势。



LIBS 的灵活性

无需将颗粒传输到电子显微镜 (SEM) 或其他设备,即可获得颗粒的化学指纹图谱

消除额外的样品制备和系统调节

在内部进行化学分析,节省时间和资金 

根据光学信息和化学信息作出明智决策 

软件设计简单直观,任何用户均可使用

清洁度专家 软件的设计以用户为出发点。用户界面可根据特定需求进行配置,使得不同熟练程度的操作者可以轻松浏览。软件通过直观的方式指导用户快速开始分析。为得到可靠、可复制的结果,所以系统设置存储在一个配置文件中,可自动调用。


选择 清洁度专家 软件

轻松快速地区分反光 (金属) 颗粒和非反光颗粒

自动调焦和自动检测功能

互动式过滤图,在查看结果的过程中显示动态图像的位置

软件由编码显微镜进行校准,因此自动化分析准确无误

轻松生成报告,共享您的结果

清洁度分析流程

从两大知名企业的强强联合中受益

通过“来源单一”的“成套”清洁度分析解决方案优化您的清洁度工作流程。


徕卡和 Pall 共同推出了独特、完备的部件清洁度集成工作流程解决方案。从提取 (例如从部件上分离颗粒) 到使用合适的徕卡光学评估系统完成分析,PALL 提供全面的整套解决方案来装备您的清洁度实验室。 


工作流程包括

来自 Pall 的清洗机和过滤器

来自徕卡的光学和化学分析解决方案 

由来自徕卡和 Pall 的应用专家提出工作流程优化建议


产品优势
ISO、VDA 和 SAE 等汽车和其他行业的国际和地区标准日益严格,必须进行严格的清洁度分析才能确保合规性。
技术资料
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