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介电常数及介电损耗测试仪GCSTD

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详细介绍

GCSTD-D 高低频介电常数测试仪

满足标准:

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容

率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数

的测试方法


试验方法:

接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

液体电极-液体容量15ml

粉体电极-根据样品量可配专用电极

试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物


性能特点:

测试频率20H2~2MHz,10mHz步进

测试电平10mV~5V,1mV步进

基本准确度0.1%

达200次/s的测量速度

320x240点阵大型图形LCD显示

五位读数分辨率

可测量22种阻抗参数组合

四种信号源输出阻抗

10点列表扫描测试功能

内部自带直流偏置源

外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)

电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

V、1测试信号电平监视功能

图形扫描分析功能

20组内部仪器设定可供储存/读取

内建比较器,10档分选及计数功能

多种通讯接口方便用户联机使用

2m/4m测试电缆扩展(选件)

中英文可选操作界面

可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序


测试材料:

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件

等的阳抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性





产品优势
试验方法:
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)
液体电极-液体容量15ml
粉体电极-根据样品量可配专用电极
试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物
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