
型号说明:
型 号 | 特 点 |
QDWS150/ QDWX150 | 出、入口平行分布单色仪、两个可调狭缝 |
QDWS1501 / QDWX1501 | 出、入口平行分布光谱仪、一个可调狭缝、出口安装CCD |
基本参数:
焦距(Focal Length) | 150mm |
F/# | F/4.5 |
杂散光(Stray Light) | 5×10-4 |
最小步距(Minimum Step) | 0.0045nm |
光栅名称(Grating Name) | 光栅S30x30x6 |
光栅有效使用面积(Grating Size) | 30mm×30mm |
标准配置光栅 (Standard 2 Gratings) | QXG1200-300(1200g/mm,λp=300nm) QXG600-1000(600g/mm,λp=1000nm) |
狭缝有效尺寸(Slits Size) | 刃口10μm自动保护,宽10μm-3mm可调,高5mm |
外形尺寸(Size) | L298mm×W200mm×H185mm |
光路高 | 140mm(±5mm可调) |
重量(Weight) | 10kg |
QDWS150光路图

QDWS150 / QDWX150系列单色仪/光谱仪光栅与技术指标对照表
光栅型号 | 线色散 (nm/mm) | 准确度 (nm) | 重复性 (nm) | 分辨率 (nm) | 理论光谱 范围(nm) | 机械光谱 范围(nm) |
QXG2400-250 | 2.7 | 0.13 | 0.05 | 0.2 | 185-500 | 0-550 |
QXG1800-250 | 3.6 | 0.17 | 0.08 | 0.27 | 185-500 | 0-730 |
QXG1800-500 | 330-730 | |||||
QXG1200-250 | 5.4 | 0.25 | 0.1 | 0.4 | 185-500 | 0-1100 |
QXG1200-300 | 200-600 | |||||
QXG1200-500 | 330-1000 | |||||
QXG600-300 | 10.8 | 0.5 | 0.2 | 0.8 | 200-600 | 0-2200 |
QXG600-400 | 260-800 | |||||
QXG600-500 | 300-1000 | |||||
QXG600-750 | 500-1500 | |||||
QXG600-1000 | 660-2000 | |||||
QXG600-1250 | 830-2200 | |||||
QXG300-500 | 21.6 | 1.0 | 0.4 | 1.6 | 330-1000 | 0-4400 |
QXG300-1250 | 830-2500 | |||||
QXG300-1800 | 1200-3600 | |||||
QXG300-3000 | 2000-4400 | |||||
QXG150-4000 | 43.2 | 2.0 | 0.8 | 3.2 | 2600-8000 | 0-8800 |
QXG66-DB | 97 | 4.6 | 1.8 | 7.3 | 2500-25000 | 0-20000 |
QXG50-12000 | 130 | 6 | 2.4 | 9.6 | 8000-24000 | 0-26400 |
报价:¥150
已咨询725次单色仪
报价:¥170
已咨询713次单色仪
报价:¥160
已咨询674次单色仪
报价:面议
已咨询322次ZDG-10单色仪
报价:面议
已咨询272次光色散器件(光栅等)
报价:面议
已咨询87次光色散器件(光栅等)
报价:面议
已咨询345次ZDG-30光栅单色仪
报价:¥100000
已咨询450次Andor影像校正光谱仪
635nm 自由光路激光器为半导体激光器,采用单模激光二极管,具有光斑模式好,长时间工作稳定等优点。
波长(nm) λc 532nm 波长范围 +/-1nm 输出功率(CW) PO 30mW
本激光清障设备系统可远距离定点清除架空线飘挂物或树枝、履冰而不损伤 导线,同时设备具有图像捕捉功能,能够对作业工程实时可视化监控。
0
性能特点 2.1、提供多种光输出接口; 2.2、采用进口灯泡,使用寿命长; 2.3、输出光强度可调; 2.4、性能稳定,噪声小; 2.5、体积小,便于携带。
出光均匀
同时满足三类 A 级标准,可以溯源。寿命长,可靠性高 灯泡易于更换 表面发黑处理,减少杂散光 温度传感器和自锁设计保证操作者的安全优化的光学设计保证大的辐照均匀度优化的工作距离适合更大尺寸的样品
1:仪器不确定度为±5%。 2:波长在0.19μm至11μm内可直读,其它波长需修正。 3:探测器能承受单次ZD辐射功率密度为100MW/C㎡超过此值会导致探测器吸收面的损坏。 4:测量连续功率时,探测器允许的ZG功率密度为200W/C㎡。