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日本三丰MITUTOYO影像测量仪QV 图像测量仪

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详细介绍

自动跟踪聚焦 ( TAF )

随测量物高度的变化,可连续聚焦的功能。

通过自动追踪表面的凹凸起伏、翘曲 ( Z 轴高低方向 ) ,提高了测量效率。

并且,还可以减少手动测量时繁琐的对焦,减轻了测量操作人员的负担。

高性能多种自动对焦

QV 系列标配了高性能影像对焦,并通过影像对焦保证了精度。丰富的对焦工具可根据不同

的表面性状及测量位置选择最适合的焦点,可实现高信赖性的高度测量。高速的自动对焦速

度,实现了提高了综合的测量效率。

图案对焦

进行图案投影的图案聚焦功能及时在

对比很低的透明物体或镜面上也能实

现清晰聚焦,可有效测量印刷电路板

防护层或聚酰亚胺表面的高度。

边缘对焦

影像聚焦 ( 边缘聚焦 ) 功能能够在边缘

位置准确聚焦。

表面对焦

表面聚焦系统可用于测量各种区域尺

寸的高度,其优点在于,即使在树脂

成型表面或机械加工表面等非常粗糙

处,也不影响聚焦效果。


产品优势
CNC 影像测量仪的 Quick Vision 系列配有
CCD 相机,无需再像测量显微镜和投影
仪那样进行目视调整。可轻松完成对电
子元件、模压制品、树脂模塑制品等的
自动测量。
• Quick Vision PRO 全部光源采用 LED 照
明,增强了边缘的可检测性、降低了
功耗并延长了使用寿命。
• 观察系统采用具有高放大率和再现性
的程控砖塔能在测量过程中自动切换
放大率。
• 所有型号的产品都具有表面、边缘和
图案自动对焦的三种特点。同时配备
有自动跟踪聚焦功能。
• 满足 ISO10360-7:2011 ( JIS B7440-7.2015 )
的精度保证。
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