本设备主要用来研究电介质材料的自漏电性。
由于测试条件非常接近实际情况,因此通过这种方式可容易地测试应用于DRAM材料的合适性。
技术说明:
电压脉冲发生器:
大电压放大: +/- 10 V;
小脉冲长度:50 ns;
大脉冲长度:640 μs。
开关性能:
激励弛豫时间<2ns;
Ron< 50 Ω;
Roff >1013 Ω。
高阻抗电流计:
输入阻抗:1013 Ω;
输入电容:30 fF。

报价:¥60000
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表面电位衰减测试系统(评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布) 表面电位衰减测试系统是一款面向材料电学特性研究的高精度、多功能分析设备,专为评估介质材料表面电荷动态衰减行为及陷阱能级分布而设计
织物摩擦带电电荷量测试仪,主要用于测试防静电服的带电电荷量,设备主要由法拉第筒、静电电位计和滚筒摩擦机组成。备注:静电电位计通常也被称为静电电量表主要用于显示防静电服及防静电面料等纺织品的电荷量。
将防静电服放入滚筒摩擦机后,经过滚简摩擦机摩擦 15min 后的防静电服投入法拉第筒内,通过静电电位计测量防静电服的带电电荷量。
HCHV-2000 是一款风冷高压脉冲发生器。该设备针对高阻抗容性负载进行了优化,非常适合用于驱动提取栅极和偏转板,以实现飞行时间质谱仪和加速器中粒子束的静电调制。
测量电容器在不同温度下的关键参数(如电容量(C)、损耗因子(D)和阻抗(Z)等参数值),从而评估其温度特性。该系统通常具有高精度、高稳定性和高可靠性的特点,能够适用于各种类。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统是一种试验设备,它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压,并经过长时间的测试(1~1000小时可按需定制),观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值的变化状况。
绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统,评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象.
半导体封装材料R-T测试,测试类型: R-T ,C-V, I-V,R-I,Cp-D,ε测试,搭配仪器:源表、高阻计、直流低电阻测试仪、阻抗分析仪、半导体参数分析仪。