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拉曼/荧光/光电流原位测试系统STS系列

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产品特点

基于RTS-mini显微系统而搭建,集成拉曼/荧光/光电流原位测试功能,配合高精度微米电动位移台,实现Raman/PL Mapping及激光诱导光电流成像。深度表征材料内部分子振动能级与转动能级结构信

详细介绍

产品概述

基于RTS-mini显微系统而搭建,集成拉曼/荧光/光电流原位测试功能。该系统可原位探测拉曼、荧光及光电流信号。配合高精度微米电动位移台,实现Raman Mapping,PL Mapping以及激光诱导光电流成像(LBIC)。深度表征材料内部的分子振动能级与转动能级结构信息,光生载流子的生成与复合机制,器件吸收和电荷生成的微区特性,光电材料界面以及半导体结区的品质分布等特性。

430_STS.png

拉曼/荧光/光电流原位测试系统技术参数

拉曼/拉曼Mapping

拉曼频移范围

60-6000cm-1 @532nm激光器

共焦方式

光纤共聚焦

高灵敏度

硅三阶拉曼峰的信噪比好于20:1,并能观察到四阶峰

空间分辨率

≤1μm@100X物镜,NA0.9,532nm单纵模激光器

光谱CCD探测器

分辨率≥2000x256

量子效率在700nm-870nm区间处>90%,

光谱范围:200 ~ 1100 nm

荧光/荧光寿命成像

光谱扫描范围

200-900nm

最小时间分辨率

16ps

荧光寿命测量范围

500ps-10μs

空间分辨率

≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器

光电流/光电流成像

激光器(光源)

标配532nm激光器,能量稳定性1%@4小时

可选配2路激光器用于光电流测试

数据采集

电流源表:Keithley 2450

测量范围:1nA – 1A

暗噪声:50pA

分辨率:20fA

准确度: 0.03%

探针台

直径65mm真空吸附卡盘

探针座和样品整体二维移动,方便样品位置与光斑位置重合

样品位置单独二维移动,方便同类样品更换

样品位置移动行程25mm,分辨率5μm

探针座:XYZ行程12mm,分辨率0.7μm

探针:钨针,直径5μm,10μm,20μm可选

测试功能

光电流扫描(Mapping):可以设定固定的电压,逐点获取电流值

I-V曲线扫描(Mapping):可以设定指定的电压区间,逐点获取I-V曲线

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