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Heller - 回流焊系统/垂直式固化炉
品牌:美国Heller INDUSTRIES
型号:Model 755
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瞬变专用电磁脉冲源
品牌:武汉普赛斯
型号:HCPL100型
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霍尔电流传感器测试平台
品牌:武汉普赛斯
型号:CTMS
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卓立汉光 SPM300系列半导体参数测试仪
品牌:北京卓立汉光
型号:SPM300
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VCSEL器件窄脉冲LIV测试系统
品牌:武汉普赛斯
型号:PL202
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耐压测试仪
- 品牌:东莞中诺
- 型号: GY2671A
- 产地:东莞
GY2672A型耐压测试仪是采用先进的数字电路技术,能自动控制输出电压的发生和停止。当测试过程中被测物品的漏电流超过设定值时,能够自动切断输出电压,同时发出声光报警,并指示出漏电流值的大小。需要定时测试时,只要预先设置合适的测试时间,启动高压后会在规定时间内自动切断输出,实现定时测试。该仪器的测试电压、漏电流、测试时间均为数字显示,可以直观、准确、快速、可靠地测量被测物品的击穿电压和漏电流值。
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动力电池外部短路试验机
- 品牌:东莞德尔塔仪器
- 型号: DELTA-DLSJ77
- 产地:东莞
动力电池外部短路试验机试验对象:铅酸电池、镍氢电池、锂电池、超级电容、锌空气电池的单体、模块、电池组。试验范围:用于汽车的各种动力电池(包括铅酸、镍氢、锂离子、锌空气、超级电容等)的外部短路安全性试验。
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测试范围广(19总大类,27分类)分立器件测试仪
- 品牌:西安易恩电气
- 型号: EN-2005B-3
- 产地:西安
测试范围广(19总大类,27分类) 升级扩展性强,通过选件可提升电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
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半导体晶圆PL光谱测试系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: -
- 产地:通州区
半导体晶圆PL光谱测试系统针对第三代半导体,如GaN、InGaN、AlGaN等,进行温度相关光谱和荧光寿命测试。同时可测量外延片的膜厚、反射率及相应的Mapping图。
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1200V半导体分析仪替代4200
- 品牌:武汉普赛斯
- 型号: SPA6100
- 产地:武汉
SPA-6100型1200V半导体分析仪替代4200可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量
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霍尔测试系统霍尔测试仪
- 品牌:武汉普赛斯
- 型号: CTMS-1000A
- 产地:武汉
普赛斯仪表CTMS-1000A霍尔测试系统霍尔测试仪集多种测量和分析功能一体,可精准测量各种电流传感器(霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等)的静态与动态参数,单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数,具有大电流特性、极快的达到300A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点,能实现零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量
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功率器件分析仪-高电压大电流
- 品牌:武汉普赛斯
- 型号: PMST-8000V
- 产地:武汉
武汉普赛斯PMST8000V功率器件分析仪-高电压大电流可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点
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陕西天士立晶体管特性图示仪STD2000E
- 品牌:陕西天士立
- 型号: STD2000E
- 产地:西安
量程宽,高压源2KV/3.5KV 高流源1KA/2KA/3KA/4000A(模块并联) 精度高,多量程设计架构,各量程下均可保证0.1%精度,具有uΩ级精确测量、pA级漏电流测量 效率高,内置开关矩阵,根据测试项目自动切换电路与测量单元,提高生产测试效率 模块化,根据测试需求搭配不同规格测量单元。预留升级潜能,降低综合使用成本 图形化软件,填充式菜单,测试过程和IV / CV 曲线实时显示,分级管理等,操作简洁高效 数据保存,数据Excel保存和IV/CV曲线图片保存 高低温,选装-50℃~﹢150℃(最高200℃)专用高精度实时在线高低温箱,支持48工位和98工位。圆形旋转盘,温度均匀性优秀 静态测试,选配温控模块,也可与第三方温箱实现联动控制(需提供温箱控制协议)。 IV曲线,2K点以内的IV曲线实时扫描 CV测试,栅电阻Rg、反向传输电容 Cres、输入电容Cies、输出电容Coes、CV曲线 外接丰富,夹具、适配器、探针台、MES、ERP、Handler(分选机、编带机、工作站等)
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陕西天士立半导体功率器件曲线分析仪STD2000-D
- 品牌:陕西天士立
- 型号: ST-DC2000-D
- 产地:西安
(17)单步测试功能,用于对单个参数进行测试,同时将测试结果值在前面板上显示,方便在线分析; (18)所有测试夹具进行了误差补偿和噪声拟制设计。 (19)IV曲线显示 (20)局部放大功能 (21)程序保护最大电流/电压,以防损坏 (22)品种繁多的曲线 (23)可编程的数据点对应 (24)增加线性或对数 (25)可编程延迟时间可减少器件发热 (26)保存和重新导入入口程序 (27)保存和导入之前捕获图象 (28)曲线数据直接导入到EXCEL (29)曲线程序和数据自动存入EXCEL (30)程序保护最大电流/电压,以防损坏
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陕西天士立半导体器件特性参数分析仪STD2000-C
- 品牌:陕西天士立
- 型号: STD2000-C
- 产地:西安
(18)所有测试夹具进行了误差补偿和噪声拟制设计。 (19)IV曲线显示 (20)局部放大功能 (21)程序保护最大电流/电压,以防损坏 (22)品种繁多的曲线 (23)可编程的数据点对应 (24)增加线性或对数 (25)可编程延迟时间可减少器件发热 (26)保存和重新导入入口程序 (27)保存和导入之前捕获图象 (28)曲线数据直接导入到EXCEL (29)曲线程序和数据自动存入EXCEL (30)程序保护最大电流/电压,以防损坏
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陕西天士立半导体分立器件静态参数测试仪系统STD2000
- 品牌:陕西天士立
- 型号: STD2000-A
- 产地:西安
1、STD2000/半导体分立器件静态参数测试仪系统 2、一机多用:一台设备可以覆盖常见的很多元器件,如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高:最高至1.5uV / 1.5pA, 4、精度有保证:0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采样率 5、测试参数全面:静态参数+IV曲线(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on))/6、高压源:标配1400V 选配2KV/7、高流源:标配100A 选配40A,200A,500A 8、栅极电压:40V 9、栅极电流:100mA
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陕西天士立半导体参数测试仪STD2000
- 品牌:陕西天士立
- 型号: STD2000
- 产地:西安
1、STD2000/半导体分立器件静态参数测试仪系统 2、一机多用:一台设备可以覆盖常见的很多元器件,如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高:最高至1.5uV / 1.5pA, 4、精度有保证:0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采样率 5、测试参数全面:静态参数+IV曲线(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on))/6、高压源:标配1400V 选配2KV/7、高流源:标配100A 选配40A,200A,500A 8、栅极电压:40V 9、栅极电流:100mA
- 半导体参数测试仪
- 仪器网导购专场为您提供半导体参数测试仪功能原理、规格型号、性能参数、产品价格、详细产品图片以及厂商联系方式等实用信息,您可以通过设置不同查询条件,选择满足您实际需求的产品,同时导购专场还为您提供精品优选半导体参数测试仪的相关技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。