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FT-351系列高温四探针电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-351
- 产地:宁波
1.四探针测试仪匹配 2.集成系统 3.温度达到1600度. 4.PC软件实时数据处理及分析. 5.具有保护气体功能.
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手持式四探针测试仪
- 品牌:沈阳科晶
- 型号: M-3
- 产地:沈阳
M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。1、测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成 2、手持式设计,带完善厚度、形状修正功能,测试JZ 3、宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程 4、操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,LED数字表头显示 5、多款探头可选,适用于各种不同材料的导电性能测试 产品名称
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FT-330系列 四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-330系列
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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美国四探针电阻率测试仪/方块电阻测试仪
- 品牌:美国四维
- 型号: 280SI
- 产地:美国
4D公司所提供的探针质保次数是25万次,而实际从客户反馈的信息是寿命达到100万次以上,甚至150万次以上。同时4D还为客户提供探头的探针更换服务,大大降低客户的使用成本。 美国四探针电阻率/方块电阻测试仪,根据测试不同工艺要求有A, B,K, M, N等相关型号探头选择,另外还可提供专门为客户定制的应用特殊要求的探针。
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FT-351高温四探针电阻率测试仪详情
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-351
- 产地:宁波
1.精度四探针测试仪匹配 2.集成系统 3.温度达到1600度. 4.PC软件实时数据处理及分析. 5.具有保护气体功能.
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FT-331四探针方块电阻测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-331
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-333普通四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-333
- 产地:宁波
1.标准电阻校准仪器 2.PC软件运行 3.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 4.可显示5位有效数字.
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FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-343
- 产地:杭州
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-361低阻双电四探针测试仪详情
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-361
- 产地:宁波
1.自动量程 2.准确稳定性. 3.双电组合测试方法 4.标准电阻校准仪器 5.PC软件运行 6.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 7.可显示5位数字. 8.中、英文界面
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FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-330
- 产地:宁波
1.标准电阻校准仪器 2.PC软件运行 3.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 4.可显示5位有效数字.
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FT-343四探针电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-343
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-371A高阻四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-371A
- 产地:宁波
1.自动量程 2.准确稳定性. 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位数字. 7.中、英文界面
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FT-361系列低阻双电四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-361系列
- 产地:宁波
1.自动量程 2.准确稳定性. 3.双电组合测试方法 4.标准电阻校准仪器 5.PC软件运行 6.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 7.可显示5位数字. 8.中、英文界面
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FT-351系列高温四探针电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-351
- 产地:宁波
1.四探针测试仪匹配 2.集成系统 3.温度达到1600度. 4.PC软件实时数据处理及分析. 5.具有保护气体功能.
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FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-340
- 产地:宁波
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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FT-331 普通四探针电阻测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-331
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-394C手持式四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-394C
- 产地:宁波
1.自动量程 2.准确稳定性. 3.双电组合测试方法 4.标准电阻校准仪器 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位数字. 7.中、英文界面
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FT-7200A自动四探针粉末电阻率测试仪(实用型)
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-7200A
- 产地:宁波
1.PC软件分析 2.重复性误差2%. 3.粉末压缩位移变化采集至千分位. 4.自带校准功能. 5.测试量程及低阻值测量范围. 6.吸尘系统 7.配置标准校准件. 8.具有防尘、防腐保护盖.
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TS200-SE Probe System MPI手动晶圆探针台系统(微屏蔽)
- 品牌:深圳科时达
- 型号: TS200-SE
- 产地:德国
适用于多种晶圆量测应用,• 如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境• 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境• 支援飞安低漏电量量测• 温度量测范围 -60 °C 至 300 °CTS200-SE Probe System细节优势MPI TS200-SE手动探针测试系统具有无与伦比的功能。具有高度可重复性(1µm)的压板提升设计,具有用于安全,
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FT-354系列高温型粉末电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-354A
- 产地:宁波
1.四探针测试仪匹配 2.集成系统 3.温度达到1600度. 4.PC软件实时数据处理及分析. 5.具有保护气体功能.
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FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-330系列
- 产地:宁波
1.标准电阻校准仪器 2.PC软件运行 3.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 4.可显示5位有效数字.
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FT-371C高阻四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-371C
- 产地:宁波
1.自动量程 2.准确稳定性. 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位数字. 7.中、英文界面
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FT-361系列低阻双电四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-361
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字.
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昊量/auniontech 光电流基础测试探针台T5500B
- 品牌:上海昊量
- 型号: T5500B
- 产地:徐汇区
产品简介T5500B探针台具有较高的性价比。较低的泄漏电流~50fA使得其易于测试6英寸的圆晶和破损的样品。同时具有较强的拓展性,客户可以根据自己的需求选用加热吸盘,高倍显微镜,底座和屏蔽箱等。产品优势•精度高 •测试稳定 •操作方便•多种测试技术 •低泄漏电流技术规格样品台尺寸6英寸,低泄漏电流 <50fAX-Y行程100mm×100mmX-Y行程精度5μmZ行程10 mmZ行程精度1μm显微镜行程x-y 50mm×50mm 精度5μm显微镜显微镜
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FT-341四点探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-341
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-361A 低阻双电四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-361A
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字.
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FT-3110系列全自动四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-3110
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字.
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FT-3110系列全自动四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-3110
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字.
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FT-3120 半自动四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-3120
- 产地:宁波
1.自动量程 2.双电组合测试方法 3.标准电阻校准仪器 4.PC软件运行 5.同时显示电阻、电阻率、电导率数据. 6.可显示5位有效数字. 7.中、英文界面
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FT-3120 系列半自动四探针测试仪
- 品牌:宁波瑞柯微
- 型号: FT-3120
- 产地:宁波
四点探针标准测试方法,采用步进系统自动控制探头与样品接触,减少人为因素对测试结果的影响;参照A.S.T.M 标准;测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点测模式或手动点测模式,同一位置的重复测试或多点的面电阻测量,报表输出数据统计分析;提供标准校准电阻件.
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CH系列探针台
- 品牌:上海波铭
- 型号: CH系列探针台
- 产地:浦东新区
产品简介:波铭科仪 CH-196高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试,射频测试,光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷,可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料,半导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。 产品优势:防辐射屏和热沉设计降温速度快,常温降至 77k<25mins,大大提高测试效率液氮自动控制系统,液氮流量模块和温度控制模块一起联动共 同控制温度
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SH系列双面点针探针台
- 品牌:上海波铭
- 型号: SH系列
- 产地:浦东新区
产品特点:双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用 于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer ,LED LCD、太阳能电。产品优势:可同时完成DC和RF测试大手柄双驱动,省时,省力,省心双光路系统,上光路可升级加载光电流系统。 型号
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纳米探针台
- 品牌:深圳科时达
- 型号: 12
- 产地:德国
纳米探测面临的挑战· 定位精度· 安全(软)着陆接触· 具有适当尖端半径的可靠探针头· 清洁环境:试验箱、样品、探针头· 振动敏感性低· 噪声抑制· 漂移补偿· 电路编辑/延迟:在FIB角度操作 优势电流成像· 快速图像采集(每帧约5)· 不需要更容易控制的反馈· 原位应用,扫描电镜可以用来确定投资回报率· 与标准钨探针头配合使用· picoamp分辨
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超低温磁场探针台
- 品牌:深圳科时达
- 型号: 11
- 产地:德国
半自动真空低温探针台使晶圆和器件在低温下9k(singleCCR系统)、4.5K(dualCCR系统)甚至低于4K(triple CCR系统)的情况下能够快速、经济地进行测试。低温探针台,设计用于支持在真空或气体环境中对高达100mm、150mm或高达300mm的晶圆进行自动动或半自动测试。 系统精度高、成本低、噪音低、使用方便。系统建立在一个振动补偿的多功能平台上,能够配置来各种测试应用程序。 · 可用于高达100mm、150mm和200mm的晶圆测试 &n
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TS3000 Probe System 半自动300mm探针台测试系统
- 品牌:深圳科时达
- 型号: TS3000 Probe System
- 产地:德国
• 模块量测 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV• 高温度范围-60°C至300°C• 大的灵活性• 具有特定设计的电缆接口的与功能测试仪的小电缆距离,可实现更好的测量方向性• 小的卡盘到工作台面高度可实现佳mmW和内部节点探测• 通过在内部集成热系统的冷却器,将系统占地面积降至低结合了MPI的IceFreeEnvironment™,TS3000可以在-60至300°C的宽温度范围内对300mm的晶片进行微型定位器和(或)探针卡测试,并具有在胶片框架上进行探
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TS3500 Probe System 全自动晶圆探针台系统
- 品牌:深圳科时达
- 型号: TS3500 Probe System
- 产地:德国
适用于多种晶圆量测应用• 模块量测 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f• 射频和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上• 可靠性测试 - 精确的压力测试• 先进的测试控制软件套件• 支持温度范围 -60 °C 至 300 °CMPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境• 为 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所设计的精密量测环境• 支持飞安低漏电值量测在建模和新技术开发过程中进行器件表征的常见
- 四探针测试仪/四探针系统
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