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优测高频探针台(90G以上)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: DN4
- 产地:深圳
(1)定制能力强,可搭配不同的主流网分 (2)chuck可以快速升降,便于更换样品 (3)高刚性龙门架,显微镜可以XYZ三轴移动,行程2英寸*2英寸*2英寸 (4)自适应减震系统
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美国GGB有源探头12C(部分现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: 12C
- 产地:深圳
部分有现货,对此探头的运用熟悉。
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优测经济型探针座(现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: DR/L-40m
- 产地:深圳
经济型探针座 型号: DR/L-40m 主要参数: •线性无后座力移动,带磁力开关,磁性吸附 •X-Y-Z 行程为 12mm*12mm*12mm,精度2微米 •精密牙具,40 牙/英寸, •高刚性结构 , 弹簧消隙 X-Y-Z , 稳定无间隙 •可搭配同轴/三轴探针夹具使用 主要特点:小巧灵活 , 使用范围广
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优测高精度探针座(现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: DR/L-100m/V
- 产地:深圳
型号: DR/L-100m/V 主要参数: •适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的探针座 •线性无后座力移动,磁性吸附,带磁力开关/真空吸附 •X-Y-Z 行程为 13mm*13mm*13mm,精度0.7um •进口制造精密牙具,100 牙/英寸 •高刚性结构,弹簧消隙 X-Y-Z,稳定无间隙 •可搭配同轴/三轴探针夹具/射频调节机构使用 主要特点: 吸附力强,稳定性好 , 旋钮顺畅
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美国APT开尔文探针夹具(现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: 74CJ-APT-KS/15
- 产地:深圳
Current leakage: < 10 fA (漏电精度高) Frequency: > 150 MHz (测试频率高) Capacitance (Guarded): < 10 fF Impedance: 50 Ohm Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level
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GGB直流探针(软针,部分现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: T-4-5/10/22/125等
- 产地:深圳
•T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路,电极,或者 FIB(聚焦离子束) 制作的 mini 电极。 •T-4 系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。 •其中 T-4-10 和 T-4-22 两款是客户反馈比较有优势的型号,因为其针须直径较细 ,具有良好的弯曲弹性 ,能够极大的减少对芯片电极的损害 ,在部分震动环境下面也能够保证和电极的良好接触。
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GGB直流探针(现货)
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: ST-20-0.5/1.0/2.0/5.0/10.0等
- 产地:深圳
ST 系列硬针是 0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径 , 长度为 1.5inch(38.1mm)的探针。 这种探 针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。 ST 系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。 该探针可以选择表面镀镍,如果选择 镀镍则型号后面增加 “NP”。
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优测高低温真空探针台
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: DCH-196
- 产地:深圳
防辐射屏和热沉设计 降温速度快,常温降至 77k<25mins,大大提高测试效率 液氮自动控制系统,液氮流量模块和温度控制模块一起联动共 同控制温度
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四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪
- 品牌:北京恒奥德
- 型号: HARTS-8
- 产地:
1:四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号:HARTS-8 HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统
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四探针具有6个连接通道的cartridge型(CDE)
- 品牌:英国jandel
- 型号: cartridge
- 产地:英国
四探针探针头Jandel公司生产的具有6个连接通道的cartridge型四探针探头.其创意设计是与CDE系统相兼容.所有jandel公司生产的探头具有非常高的机械精度。通过视频检测系统和光学干涉仪来验证规范探针半径曲率、间距以及平面性(平面度/平整度), 其负荷是通过电子测力计来验证。并且每个探针都通过带有宝石导向针进行上下移动。虽然该探头与KLA/ Tencor /Prometrix公司制造的工具的探头非常的相似,但是这俩个探头之间并不能替换,且要小心的保护它们,尤其是当俩个系统同时使用时.CDE兼容的
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高温探针台 4寸手动探针台
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: Y-4-H
- 产地:武汉
高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,可测4英寸晶圆,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个4英寸晶圆,高温测试温度范围室温-500℃,可升级、射频、光纤测试
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双面探针台 6寸手动探针台
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: Q-6
- 产地:武汉
双面点针测试,样品固定牢靠,可灵活固定4-6寸晶圆,测试范围覆盖整个6寸晶圆,高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个6英寸晶圆,显微镜倍率最高可放大至1000X,可升级射频、光纤测试
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12寸手动探针台 晶圆芯片高温测试
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: P-12
- 产地:武汉
高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,可测12英寸晶圆,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个12英寸晶圆,移动平台为气动+手动的方式,便于快速移动亦可精准定位,显微镜倍率最高可放大至1000X,针座平台可升降,可快速抬起探针,可升级高温、射频、光纤测试
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8寸手动探针台 晶圆芯片直流射频测试
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: L-8
- 产地:武汉
高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,可测8英寸晶圆,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个8英寸晶圆,显微镜倍率最高可放大至1000X,针座平台可升降,可快速抬起探针,可升级高温、射频、光纤测试
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6寸手动探针台 晶圆芯片测试
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: G-6
- 产地:武汉
高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,可测6英寸晶圆,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个6英寸晶圆,显微镜倍率最高可放大至1000X,可升级高温、射频、光纤测试
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4寸手动探针台 煜芯科技Y-4晶圆芯片测试探针台
- 品牌:武汉煜芯
- 型号: Y-4
- 产地:武汉
高性价比探针台,满足手动探针台的测试需求,可测4英寸晶圆,移动行程、观察视野、扎针范围可覆盖整个4英寸晶圆,可升级高温、射频、光纤测试
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定制非标机械设备
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: TBD
- 产地:深圳
(1)我司拥有强大的技术团队,在非标领域深耕多年 (2)在清华,北大,北航,中科院等知名企业有大量成功案列 (3)非标经验丰富,可出初步方案
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优测简易型探针台
- 品牌:深圳优测国芯
- 型号: DM4
- 产地:深圳
产品优势: 探针台与显示器一体化设计,大大减小了设备的占地空间 具备自适应减震系统,一定程度上可防止外界震动的干扰。 U 型平台镀镍设计,不仅增大了针座的加载空间,还提高了针座平台和针座之间的吸附力
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低阻双电阻四探针测试仪
- 品牌:北京创诚致佳
- 型号: HT-361
- 产地:海淀区
HT-361低阻双电阻四探针测试仪可以测试到1uΩ方阻值, 恒流输出、液晶显示、自动数据测量、双电组合测试方法,提供中文或英文语言版本。可以用于抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等测试。
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普通四探针方阻电阻率测试仪
- 品牌:北京创诚致佳
- 型号: HT-330
- 产地:海淀区
HT-330普通四探针方阻电阻率测试仪适用于EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率,导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜的测试。
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四点探针系统
- 品牌:英国Ossila
- 型号: 探针台
- 产地:英国
这款四点探针系统是一款易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻,电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元,我们能够创建一个低成本的系统,使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触,而不是尖锐的针头,防止损坏精密样品,如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。
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武汉微科 探针台|全自动探针台系统12英寸
- 品牌:武汉微科
- 型号: TS3500-SE
- 产地:武汉
产品特点:1,专为多种晶圆测试应用而设计模块量测 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV,ESD,1/f射频、毫米波、射频频率可设置可从26GHz到 110GHz或更高。晶圆级可靠性-用于精确的压力和测量条件领先的测试执行软件套装的驱动程序2,WaferWalletTM 操作平台设计有五个单独的托盘,可按人体工学方式手动装载150、200或300毫米的“模型”晶圆在多个温度条件下全自动测试可多达五个相同的晶圆有在任何温度下装载/卸载晶片的独特能力3,S
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HRMS-800 四探针方块电阻测试仪
- 品牌:武汉佰力博
- 型号: HRMS-800
- 产地:武汉
Partulab佰力博自主研发HRMS-800高温四探针测试仪,可以实现600℃高温、真空、气氛条件下测量半导体材料的方块电阻,薄膜、薄片材料的方块电阻。该系统广泛应用于高校科研院所和企业单位半导体薄膜和薄片材料电学性能研究。
- 四探针测试仪/四探针系统
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