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高分辨率X射线成像系统 M11427系列
- 品牌:日本滨松
- 型号: M11427系列
- 产地:日本
X射线在闪烁体上转化为可见光,通过显微物镜/透镜等光路,采用滨松高端可见光相机成像,灵活高质量的可见光光路和相机保证了系统的超高分辨率。
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无损检测用X射线平板探测器
- 品牌:日本滨松
- 型号: C7942CA-22
- 产地:日本
无损检测用X射线平板探测器C7942CA-22是一款紧凑、重量轻的数字X射线成像传感器,用于作为无损检测、生物化学成像和X射线显微镜的关键器件,可以实时获取高分辨率、高清晰度的数字X射线图像。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!特性- 2400 × 2400 pixels- 12位数字输出- 高速成像:2 frames/s(单次工作)- 9 frames/s (4 × 4 binning)- 低噪声,宽动态范围详细参数感光面积120
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PD组合件及模块 X射线成像系统
- 品牌:日本滨松
- 型号: X射线成像系统
- 产地:日本
X射线成像系统由一块数据采集卡和若干块PD模块组成,方便快速组合,并应用于获取X射线线性扫描图像。数据采集卡每通道zui多可连接15块PD模块,并通过网络接口与采集计算机连接。标准PD模块为双能线阵探测模块,单个模块有64像素、128个信号通道,高低能探测器之间安装有铜质过滤片。数据采集卡和PD模块有多种规格可供选择,适合于不同的场合。
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X射线图像增强器相机单元 C7336-07
- 品牌:日本滨松
- 型号: C7336-07
- 产地:日本
C7336-07包括一个高分辨率,高对比度的4-inchX射线图像增强器(X射线I.I.)和一个3 mega-pixel的CMOS图像传感器。 X-ray I.I.的输入端光窗由薄铝制成,因此该输入窗口具有出色的X射线透射能力,并减少了X射线的散射。 该产品可以在大约20 keV的X射线能量水平下进行实时检测。
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X射线图像增强器相机单元 C7336-06
- 品牌:日本滨松
- 型号: C7336-06
- 产地:日本
C7336-06包括一个高分辨率,高对比度的4-inchX射线图像增强器(X射线I.I.)和一个2.35 mega-pixel的CMOS图像传感器。 X-ray I.I.的输入端光窗由薄铝制成,因此该输入窗口具有出色的X射线透射能力,并减少了X射线的散射。 该产品可以在大约20 keV的X射线能量水平下进行实时检测。
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X射线图像增强器 V10905P-01
- 品牌:日本滨松
- 型号: V10905P-01
- 产地:日本
X射线I.I.内置高压电源,具有4英寸/ 2英寸的可变视场,具有高分辨率和高对比度。 通过工业产品的X射线透视模拟,它可以用于产品的线上和线下检测。
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高分辨率X射线成像系统 高分辨率X射线成像系统
- 品牌:日本滨松
- 型号: 高分辨率X射线成像系统
- 产地:日本
该高分辨率X射线成像系统是为X射线光束对准应用而设计的。它采用了独特的机械结构,可结合各种相机实现实时X射线光束对准。 铍输入窗实现了宽范围的X射线能量;并配以L形石英光学系统,可提供高X射线辐射耐受性。
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高分辨率X射线成像系统 M11427系列
- 品牌:日本滨松
- 型号: M11427系列
- 产地:日本
X射线在闪烁体上转化为可见光,通过显微物镜/透镜等光路,采用滨松高端可见光相机成像,灵活高质量的可见光光路和相机保证了系统的超高分辨率。
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滨松X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN-C
- 品牌:日本滨松
- 型号: C9750-10FCN-C
- 产地:日本
X射线线扫描相机C9750-10FCN-C可对传送带或类似装置所传送的待检测物体进行高灵敏度、高分辨率的清晰成像。由于物体内部不能通过裸眼观测到,但是通过可非接触、非破坏性的X射线进行检测,因此该相机非常适合内部X射线观测,可探测出食物、电子器件等内部的异物。相机采用仅有50mm厚的薄传感器头,因此可以安装在传送装置内部。此外,该相机探测面积宽,可进行大尺寸物体的内部观测,目前这是一种困难的技术。
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滨松双能X射线线阵相机 C10800-04ECH
- 品牌:日本滨松
- 型号: C10800-04ECH
- 产地:日本
C10800系列为高速、高分辨率双能X射线线阵相机,可有效地鉴别材料,用于多种无损测验领域。 通过采用不同的闪烁体、滤光片和增益因子的组合,可对不同的物体及X射线条件进行优化,可涵盖从诸如矿物质分类等的高能射线范围应用,到毒品探测、肉类检测、食品检测等的中能射线应用。 C10800-04ECH:高X射线能量范围(100 kV至160 kV)
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岛津无损检测仪器—X射线微焦点透视检查设备SMX-3500
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-3500
- 产地:日本
仪器简介:岛津的SMX-3500是针对大型铝压铸件,观察/检查其内部缺陷的X射线透视装置。它配置了适合大样品的载物台、防护箱、大功率管球和大视野接收器。同时,本设备仅通过鼠标就可完成所有操作,这样能够使操作人员专注于检查作业。另外,设备软件还具有用外观图定位的功能(外观导航功能)、通过3次元追踪观察点(追踪功能)的功能,可以从任意角度轻松检查被测样品。 用途: 检查铝压铸件、铝铸件内部缺陷(砂眼、裂痕)和树脂成形品 详情请访问岛津网页:http://www.shimadzu
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理学 XRT XRTmicron X射线形貌成像系统
- 品牌:日本理学
- 型号: XRTmicron
- 产地:日本
X射线形貌仪系统可以实现半导体晶体缺陷的无损表征,同时也有利于研究晶体缺陷变化规律,为晶体生长工艺和外延工艺的改进提供了理论指导和数据支持。X射线貌相仪用于单晶材料的无损检测评估,不仅在研究和开发领域,在质量管理领域也发挥着重大作用。·X射线源:微聚焦高亮度转靶·入射光学系统:多层膜平行光束准直器·可以利用晶体准直器·自动样品转换(样品水平配置)·透射和反射法兼用测角仪系统·高灵敏度和高分辨率X射线相机取得数码图像·形貌图像分析位错高亮度双波长X射线源:MicroMax-007 DW高分辨率、高分辨率X射
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微焦点X射线检查装置 SMX-800
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-800
- 产地:日本
详细说明用指尖实际感受真正的高效处理品质管理现场,经常要求高效率。SMX-800就是为满足这些需求而开发的装置。触摸屏显示器及控制杆、直观的用户界面、全新设计的高速 载物台,都大大减少了检查时启动程序所用时间。谁都可以简单迅速地观察、检测到基板及电子零部件内部的细微缺陷。主要特点触摸屏实时检测,直观操作。显示器使用大型触摸屏,用手指触摸,直接进行定位,扩大,缩小等各种操作。任何人均能立刻掌握操作方法,效率也得以提高。扩大从左到右拖拽透视图像显示区域,使拖拽范围扩大,覆盖显示区域。缩小从右向左拖拽,将按
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岛津无损检测仪器—X射线微焦点透视检查设备SMX-3000
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-3000micro
- 产地:日本
仪器简介:是适用于零部件评价等多领域的X射线透视检查装置,适用于铝,镁,锌铸件,组装零部件X线检查。 详情请访问岛津网页:http://www.shimadzu.com.cn/ndi/ndi-series/smx-3000.html技术参数:焦点尺寸 :50μm 搭载尺寸 :φ300X高650mm以下 搭载重量 :最大20Kg(包含夹具重量) X射线输出 :电压最大130KV、电流最大400μA 电源 :单相AC200V±10%,1.5
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岛津无损检测仪器—X射线微焦点透视检查设备SMX-2000
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-2000
- 产地:日本
仪器简介:检查电子产品等内部构造和封装状态 详情请访问岛津网页:http://www.shimadzu.com.cn/ndi/ndi-series/smx-3500.html技术参数:焦点尺寸 :1μm 搭载尺寸 :宽470X进深420X高100mm 搭载重量 :最大5Kg X射线输出 :电压最大160KV、电流最大200μA 电源 :单相AC200V±10%,2KVA(D种接地) 机器重量 :约2400Kg主要特点:SMX
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岛津无损检测仪器—X射线微焦点透视检查设备SMX-1000
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-1000/1000L
- 产地:日本
仪器简介:可用于高密度封装基板和BGA、CSP、系统LSI等键和情况的高倍率非破坏透视检查,特别适合于IC封装检查、元器件生产和PCBA等产品。另外,SM-1000L适合于检查大尺寸基板和连续检查大量零部件。 详情请访问岛津网页:http://www.shimadzu.com.cn/ndi/ndi-series/smx-1000.html技术参数:
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微焦点X射线透视检查装置 SMX-1000 Plus/1000L Plus
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-1000 Plus/1000L Plus
- 产地:日本
将使用性和功能提升到极致的X射线检查装置 原来的SMX-1000/SMX-1000L是业界检查机器的参照系,现在我们在此基础上开发出了更加简洁的X射线检查装置SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus。新机型将过去备受好评的操作性能进行了进一步提升,并使操作界面更加简洁易懂,增大的透视图像和外观图像提高了图像的易读性。新系统大幅度地简化了测量功能,通过无须复杂参数设定的一键式操作即可得到测量结果;除在外观图像上可实施导航、步进、教学(Teaching)、图像一览显示等丰富的功能
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微焦点X射线透视检查装置 SMX-2000
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-2000
- 产地:日本
功能强大、操作方便、代表高水平的X射线透视装置! 岛津SMX-2000采用了高速载物台、配置了外观图像决定位置功能、只点击一下鼠标就能完成所有必要设定的跟踪功能等,能够更加迅速地移动样品和变换观察角度,实现透视检查。而且,本系统采用的软件(XEVOLUTION)将曾使用在SMX-1000上的步进、教学功能进行升级,可以增加设定计测功能,这样用户就能根据自己的需要设定检查步骤。本设备使用管球采用没有高压电缆的设计,与平板检出器配合使用
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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: XslicerSMX-6000
- 产地:日本
将X射线和CTwan美结合XslicerSMX-6000是岛津公司采用自制的微焦点X射线发生器和高灵敏度平板接收器的一款带有CT功能的X射线透视系统。顺畅的切换将透视观察和断面观察快速连接在一起,全新的CT处理引擎能够进行全自动校准、高速拍摄以及重构。高放大倍数、高分辨率的图像不会变形,从而可以观察电子元器件等平板状样品内部的细微构造和缺陷。Easy operation采用全新UI(用户界面)可以实现直观的简单操作。关闭拉门后即可开始检查。即使对于初次使用者,也可以轻松地进行X射线检查Ea
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X-ray检查装置(透视) SMX-3100M/FI-3100M
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-3100M/FI-3100M
- 产地:日本
【Clear Image】系统配合使用独立图像处理软件(ImageXpector-Pro)可获得没有变形、没有阴影的清晰图像。【Simple Operation】任何人都可轻松掌握的操作部使用方便的操作盒和显示器可以配合操作人员自由变化。 实现了轻松操作。简洁的导航画面简洁明了的功能性界面设计,可以让操作人员简单掌握操作方法,另外,系统可以显示过去保存图像的缩略图,可与实时透视图像 对照进行检查。【High Performance】教学功能可提高作业效率自动检查功能对数个相同被检物
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SMX-311M/FI-311M 微焦点X射线透视装置
- 品牌:岛津实验器材
- 型号: SMX-311M/FI-311M
- 产地:日本
微焦点X射线透视装置小焦点X射线透视装置SMX-311M / SMX-311M-PFI-311M / FI-311M-PSMX-311M/SMX-311M-P采用了微焦点X射线管,可减少伴影,获得清晰的图像。如果130kV射线管不足以检测试样,可以选择选项中的高功率射线管(150kV输出),如此,本设备亦可用于厚材料的检查。通过不同配置,设备可用于从低密度材料的内部观察到对大体积材料检查等多种用途检测。 同时,选择0.1mm焦点的X射线装置与平板显示器配套使用,可获得比老型号产品更为清晰的图像。&nb
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[公开招标]预算1060万元 南京理工大学采购无损三维X射线成像分析系统
南京理工大学公开招标无损三维X射线成像分析系统,项目编号:ZZ0029-G24HZ0052/JSHC-2023090766A1
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