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尼康X射线检测站XTV160
品牌:尼康
型号:XTV160
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尼康CT扫描工作站 XTH450
品牌:尼康
型号:XTH450
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尼康计量型CT工作站MCT225
品牌:尼康
型号:MCT225
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微旷 全能显微CT XLAB-2000
品牌:微旷科技
型号:XLAB-2000
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微旷 强穿透大型工业CT XSTAFF-2000
品牌:微旷科技
型号: XSTAFF-2000
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法国RX Solutions X射线CT系统EasyTom
- 品牌:法国RX Solutions
- 型号: EasyTom
- 产地:法国
· 高分辨率三维计算机断层扫描 · 实时高分辨率数字化X光透视 · 纳米级分辨率配置可选 · 5-250um分辨率
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法国RX Solutions 工业CT断层扫描EasyTom S
- 品牌:法国RX Solutions
- 型号: EasyTom S
- 产地:法国
工业CT即工业计算机断层扫描成像,它能在对检测物体无破坏的情况下,以二维断层图像或三维立体图像的形式,清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况。
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ZEISS METROTOM工业CT断层扫描仪
- 品牌:德国蔡司
- 型号: ZEISS METROTOM
- 产地:德国
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次X射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。
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奥龙AL-CT1010文物保护系统
- 品牌:丹东奥龙
- 型号: AL-CT1010
- 产地:
世界先民在悠久的历史进程中创造了辉煌的物质文明,为我们遗留下浩如烟海的文化遗存。而这些文物瑰宝都是由各种材质组成,了解文物材质及其病变规律,探知文物内部的工艺结构及损伤,是保护文物的先决条件。目前科学的发展趋势表现为科学既是一个高度分化的同时又是一个高度综合化、整体化、社会化的体系。自然科学与社会科学日趋结合,更深刻、更全面地去反映自然与社会。文物作为人类历史与文化的物质遗存,本身就是一个既体现自然又承载人文信息的综合体。因此,对于文物的研究自然应该顺应现代科学发展的总趋势。人们不再仅仅使用一台仪器,一
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AL-CT1020岩心检测与分析系统
- 品牌:丹东奥龙
- 型号: AL-CT1020
- 产地:
系统介绍:该系统利用X射线穿透各种岩心(包括砂岩、碳酸岩、页岩、煤炭、土壤、化石等),对样品内部结构进行无损扫描成像,通过图像处理软件重构样品内部结构,能够为构建三维数字岩心模型提供支撑;能够计算岩心样品的孔隙度,测量岩心孔径、孔喉比,展示孔隙空间分布、连通情况;能够展现各类粘土矿物空间分布及含量,用于自生矿物空间分布与分析。通过旋转工作台(外面是塑料或铝制套筒),用户可以得到岩芯内部的三维图像,二维或三维的X射线扫描图像提供非常有价值的岩芯内部数据,该数据用来评价岩芯的品质或进行进一步的研究分析。专为岩
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X射线CT系统EasyTomXL
- 品牌:
- 型号: EasyTomXL
- 产地:法国
高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统 高分辨率三维计算机断层扫描 实时高分辨率数字化X光透视 纳米级分辨率配置可选 5-250um分辨率 zui大样品尺寸(直径 x 高度 :320 mm x 420 mm) 可编程自动控制重复扫描 样品位置记忆 广泛的应用领域及产品分析 铅及钢铁结构,X射线内锁定系统,操作安全
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X射线CT系统-EasyTom
- 品牌:
- 型号: EasyTom
- 产地:法国
高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统 RX Solutions;高分辨率三维计算机断层扫描;紧凑型数字化X光透视系统;Easy Tom;工业CT扫 高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统
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X射线透工业CT
- 品牌:
- 型号: Desk Tom
- 产地:法国
高分辨率 三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统
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越联YSC-CS+2M蓝光扫描仪
- 品牌:德国蔡司
- 型号: YSC-CS+2M
- 产地:东莞
计——简易模具试制——功能验证——修模——量产——定期检测……三维扫描可以应用到上面的整个过程,在设计阶段我们可以用扫描仪来测量油泥模型,生成CAD数据;在模具试制及修模工程中,我们可以扫描模具以查看模具设计是否按照我们的CAD要求来进行的;在功能验证及量产的时候我们也可以检测我们产品是否跟原始设计一致,找出问题并分析问题;而量产的定期检测又可以帮我们很好的了解模具及夹具检具治具的磨损情况,很好的实现对整个生产流程的控制。
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尼康工业CT
- 品牌:尼康
- 型号: X 射线和 CTXT V 系列
- 产地:日本
XT V系统范围具有亚微米特征识别功能,可满足当今对复杂电子元件进行高性能、无损检测的需要。尼康Xi Nanotech X射线源与业界领先的平板探测器相配,可产生一流的图像质量,并在2D和3D检测之间实现无缝转换。提高所有操作员的生产效率,同时减少培训需求。XT V检测系统具有亚微米特征识别功能,适用于广泛的应用和行业,包括PCB组装、BGA检测、芯片设计、医疗和汽车零部件制造、航空航天、消费品等。
- 工业CT
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- 库仑仪