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透析电子显微镜的原理是什么?

半杯水0226    2006-09-17    AFM探针    浏览 633 次

精彩问答
青岛纯生729 发布日期:2006-09-18
不知你知的是那类电镜,按照分辨率从低到高(不是的)来说,以下几类都可以探测样品表面高度起伏的程度(topography),他们还可以分析样品元素组成,晶格等等,就不一一说了。

扫描电镜(SEM)是在样品表面扫描一束电子,分析这束电子撞击物品表面而发射的二级电子或者俄歇电子,这类反射电子的能量,方向与表面高低有关,所以可以成像。
投射电镜(TEM)的电子束穿透样品后被采集分析,因为样品的晶格(宽泛的说,不论是否晶体)散射电子的情况不同,可以得到样品的形态数据。
原子力显微镜(AFM)探测的是探针针尖与样品表面某处的极微弱作用力,随样品表面的凹凸不平,作用力变化,拉动维系探针的弹簧,引起电流或者角度的变化。
隧道扫描电镜(STM)是利用探针与样品表面及其接近时产生的隧道电流,因为样品表面高度的变化,隧道电流大小发生变化,探测探针的电流变化,就可以知道样品表面凹凸不平的程度。

AFM可用于表面绝缘的样品成像,另三类都比较适合表面导电的样品,。
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