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如何对薄膜厚度,结构,微观形貌及成份进行测试

qiaokjf9017    2017-10-29    白光干涉测厚仪    浏览 374 次

精彩问答
杨文通03 发布日期:2017-10-30
XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。1XRD(X-raydiffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。2SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。3AFM(原子力显微镜
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