日立实验 | 荧光分布成像系统EEM View观察荧光体树脂片

前沿资讯

       时下，照明灯和液晶显示屏的背光源均采用白色LED灯。因此，为了进一步提升产品性能，Mini LED背光源和Micro LED显示屏的研发正在紧锣密鼓的进行中。

       荧光分布成像系统（EEM View）是能够同时获取样品图像和光谱信息的新附件。入射光通过照射积分球内壁，获得均匀光源，进而观察样品。利用F-7100标配的荧光检测器可以获得荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机装置拍摄图像，并利用AI光谱处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。相信未来EEM View会在LED零配件内的荧光体光学特性评价中得到广泛的应用。

荧光体树脂片（50 mm×50 mm）的荧光特性

       此次实验测定了在面发光LED中使用的荧光体树脂片。对样品照射360～640nm的单色光，得到了样品特有的荧光特性。EEM View模式下，可同时获得不同光源条件的样品图像。

       通常，白色LED灯发光原理是采用蓝光LED发光二极管在455nm附近激发荧光体，产生580～650nm的黄色荧光，从而与LED发出的蓝光混合形成白光（图1）。由图2、图3可以看出，此次测定的样品荧光体树脂片，在455nm附近被蓝光LED灯激发，发出相当于625nm的黄色荧光。

图1 白色LED发光原理               图2 三维荧光光谱

图3 激发光谱和发射光谱  

荧光体树脂片的分布均匀性确认

图4 树脂片的图像和光谱

       图4为树脂片的荧光成分图像，左边是荧光体分布不均匀区域的荧光图像和光谱，右边是荧光体分布均匀的荧光图像和光谱，从荧光图像中可以看出荧光体的分布情况。

       此外，通过不同位置计算出的荧光光谱，可以发现树脂片不同位置的荧光强度存在差异。对于荧光体分布不均匀的树脂片（左图），它的ZX位置亮度偏高。而且从荧光光谱中可以看到，3个位置的荧光光谱峰值荧光强度Z大偏差15％。

总结

       日立新技术荧光分布成像系统将拓宽科研新视野，配备在日立荧光分光光度计中，可以同时获取样品光谱和图像，确认样品光谱性能的面内分布。

（来源：日立仪器（上海）有限公司）