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JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-400

捷欧路(北京)科贸有限公司    2020-07-14    共聚焦显微镜    浏览 369 次

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    JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级为JIB-4000PLUS

    JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统升级了,新型号:JIB-4000PLUS。该设备为单束FIB装置,不仅可以对样品表面进行SIM观察 、研磨、及碳和钨等沉积,还可以为TEM制备薄膜样品和截面样品;可选3D观察功能、自动TEM样品制备功能,能对应多种制样需求。


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