Bruker 公司的Anasys nanoIR3型纳米红外光谱测量系统,是一款基于原子力显微镜(AFM)的纳米表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术(PTIR,也称AFM-IR),使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限,提高至10纳米级别。为揭示纳米尺度下的表界面红外光谱信息提供了可能。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。
Bruker纳米红外光谱仪主要由红外光源、光阑、干涉仪(分束器、动镜、定镜)、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成。可以对样品进行定性和定量分析,广泛应用于医药化工、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等领域。
由于超高空间分辨率的红外光谱采集和化学成分成像,被公认为近十来年光谱领域最大的技术进步。该技术曾荣获2010年度 美国R&D100大奖。
在广受欢迎的第二代纳米红外光谱 系统的基础上实现快速扫描功能,光谱采集速度< 1s/光谱;专利的轻敲模式纳米红外将空间分辨率提高至 10nm以上,并大大提高红外成像速度,并使得较软的生物材料等软物质的化学成像实现质的飞跃。
优点:
·消除研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合,没有吸收峰的任何偏移
·基于专利保护的脉冲共振增强技术:实现单分子层超薄样品化学分析
·专利技术实现智能的光路优化调整,无需担心光路偏差拖延你的实验进度
·最准确的定性微区化学表征,得到美国国家标准局NIST,橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可
·简单易用的操作,被三十多位企业用户和过百位学术界用户所选择
需要bruker其他型号的产品,可拨打电话021-61552797咨询上海尔迪仪器科技有限公司
产品资料介绍
Bruker纳米红外光谱仪支持全系列扫描探针显微镜模式
Contact Mode(接触模式)
Tapping Mode(轻敲模式)
Lateral Force Microscope(横向力/摩擦力显微镜)
Phase Imaging(相位成像)
Magnetic Force Microscopy (磁力显微镜)
Electrostatic Force Microscopy (静电力显微镜)
Conductive Atomic Force Microscopy (导电原子力显微镜)
Kelvin Probe Force Microscopy (开尔文探针力显微镜)
Force Curve Spectroscopy(力曲线)
Liquid Imaging(液态环境扫描)
Heater-Cooler Imaging(高低温环境扫描)
SThM(扫描热显微镜)
Nano-TA(纳米热分析)
LCR(洛伦兹纳米力学分析)
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