OCI-V测量FBG受压时的偏振相关损耗
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光纤光栅(FBG)作为一种新型的无源器件,为光通信和光传感成功开辟了一条崭新道路,从光纤光栅技术被应用以来,该技术在光纤传感技术和高速光纤通信领域得到了飞速发展。随着光通信的发展,传输速率不断提高,偏振特性对传输质量的影响也更加明显,成为高速光纤通信系统发展的障碍,然而,在光传感领域,偏振效应具有响应速度快、效率高等优势,可以利用光纤的偏振敏感特性进行传感,以及利用器件的超快偏振响应特点进行全光信号处理等,这些使得偏振相关特性的研究十分有意义。
测试FBG受压时偏振相关损耗
测试加载装置示意图如图1所示,用光矢量分析仪(OCI-V)进行测试,测量模式为反射式测量,一次扫描就可以得出FBG反射式的偏振相关损耗(PDL),测试的FBG中心波长为1548.0-1548.3nm,压力加载装置为将FBG平放在两块钢板之间,在FBG并行位置放置一根相同直径的光纤来保证FBG受压力时保持平衡,在上面钢板上放置不同重量的砝码进行加载,分别为1kg、2kg、4kg、6kg和10kg。
图1. 测试加载装置示意图
图2. a-0kN、b-10kN、c-20kN、d-40kN、e-60kN、f-100kN各PDL测试图
图2为不同压力下的测试图,从中可以看出,FBG在没有压力时中心波长附近光波段的PDL趋近于零,施加压力后中心波长附近两端出现两个波峰(图中画圈的位置),随着压力逐渐增大,波峰峰值越来越大,在压力达到60KN时波峰出现最大值,且随着压力增大两个波峰逐渐靠近,中间PDL趋近于零的平坦区域逐渐缩小,在压力达到100KN时波峰出现畸变,波峰高度有所降低,中间PDL平坦区域消失。
综上所述,经测试发现压力会对FBG中心波长附近的PDL造成较大影响,随着压力增大中心波长两端PDL波峰峰值逐渐变大,PDL较小区域逐渐缩小直至消失,压力过大时会使中心波长附近波段的PDL出现畸变。通过OCI-V能够快速测试出FBG的偏振相关损耗,利用其偏振相关特性可以判定FBG的性能优劣,为其能否准确进行通信传输和光学传感提供了判断标准。
光矢量分析系统OCI-V
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- OCI-V测量FBG受压时的偏振相关损耗
光纤光栅(FBG)作为一种新型的无源器件,为光通信和光传感成功开辟了一条崭新道路,从光纤光栅技术被应用以来,该技术在光纤传感技术和高速光纤通信领域得到了飞速发展。随着光通信的发展,传输速率不断提高,偏振特性对传输质量的影响也更加明显,成为高速光纤通信系统发展的障碍,然而,在光传感领域,偏振效应具有响应速度快、效率高等优势,可以利用光纤的偏振敏感特性进行传感,以及利用器件的超快偏振响应特点进行全光信号处理等,这些使得偏振相关特性的研究十分有意义。
测试FBG受压时偏振相关损耗
测试加载装置示意图如图1所示,用光矢量分析仪(OCI-V)进行测试,测量模式为反射式测量,一次扫描就可以得出FBG反射式的偏振相关损耗(PDL),测试的FBG中心波长为1548.0-1548.3nm,压力加载装置为将FBG平放在两块钢板之间,在FBG并行位置放置一根相同直径的光纤来保证FBG受压力时保持平衡,在上面钢板上放置不同重量的砝码进行加载,分别为1kg、2kg、4kg、6kg和10kg。
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图2为不同压力下的测试图,从中可以看出,FBG在没有压力时中心波长附近光波段的PDL趋近于零,施加压力后中心波长附近两端出现两个波峰(图中画圈的位置),随着压力逐渐增大,波峰峰值越来越大,在压力达到60KN时波峰出现最大值,且随着压力增大两个波峰逐渐靠近,中间PDL趋近于零的平坦区域逐渐缩小,在压力达到100KN时波峰出现畸变,波峰高度有所降低,中间PDL平坦区域消失。
综上所述,经测试发现压力会对FBG中心波长附近的PDL造成较大影响,随着压力增大中心波长两端PDL波峰峰值逐渐变大,PDL较小区域逐渐缩小直至消失,压力过大时会使中心波长附近波段的PDL出现畸变。通过OCI-V能够快速测试出FBG的偏振相关损耗,利用其偏振相关特性可以判定FBG的性能优劣,为其能否准确进行通信传输和光学传感提供了判断标准。
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东隆科技致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案,推出了一系列光学测量测试系统。
今日,重点推荐高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V)这两款光通信测量系统神器,围绕它们的测量原理、测量参数、产品应用进行PK,您会如何选择?
OCI高分辨光学链路诊断系统
▪ 单端反射式测量
▪ 分布式回损、插损、光谱、群延时测量
OCI-V光矢量分析系统
▪ 双端透射式测量
▪ 自校准
1、测量原理有何不同?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)采用的是OFDR光频域反射技术,检测待测光纤中背向瑞利散射信号,实现对光纤链路的全方位诊断;
光学矢量分析系统(OCI-V)采用线性扫频光源对带测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得各光学参数。
2、测量参数有哪些?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)
▪ 分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数;
光学矢量分析系统(OCI-V)
▪ PDL(偏振相关损耗)
▪ PMD(偏振模色散)
▪ IL(插损)
▪ GD(群延时)
▪ CD(色散)等
注明:它们在测量不同波长下的各参数值时,系统设备显示上也有所差异,OCI显示横坐标为长度,纵坐标为反射;OCI-V显示横坐标为波长,纵坐标为各待测参数。
3、产品应用知多少?
高分辨光学链路诊断系统(OCI)
▪ 光器件
▪ 光模块测量
▪ 光纤长度精确测量
▪ 硅光芯片测量
▪ 光谱
▪ 群延时测量等
光学矢量分析系统(OCI-V)
▪ 无源器件(平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等)测量
4、测试示例图
OCI测量光纤链路,测得各位置处的分布式损耗,空间分辨率高达10μm
OCI-V测量HCN气体吸收室,测得不同波长下的插损,波长精度可达1.6pm
总结:
高分辨光学链路诊断系统(OCI)与光学矢量分析系统(OCI-V),均具备自校准,无需人为干预等特点,其稳定性非常好,也能精准测量各待测参数,并且极大节省测试时间。
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