贴息贷款丨科研级模块化显微共聚焦拉曼光谱仪RMS1000
天美仪拓实验室设备（上海）有限公司-
英国爱丁堡仪器
科研级模块化显微共聚焦拉曼光谱仪RMS1000
仪器介绍
RMS1000拉曼光谱仪是一台“开放式”研究级别的共焦显微拉曼光谱仪。在仪器系统中可配置多达5个集成的窄带激光器，另，可以连接外部激光器，以及用于荧光寿命测量的脉冲激光器。RMS1000是一个真正的共焦系统，具有可调节的电动狭缝和多个位置可调节的针孔，能实现更高的图像清晰度，更好的荧光抑 制，应用优化。
适用于新型半导体材料、生物分子（如蛋白质、多肽）等方面的研究，提供超高的光谱分辨率、空间分辨率和灵敏度。模块化的设计，结合拉曼成像技术（2D/3D/Surface Mapping）和荧光成像技术(FLIM)，实现全方位样品信息检测。
仪器特点
+ 模块化科研级拉曼光谱仪
+ 双焦长光谱仪可同时配置（800mm&250mm）
+ 最多耦合4个检测器（如CCD、EMCCD、InGaAs等）
+ 最多耦合5个内置激光器（配置外置激光器接口）
+ 内置标准物质和自动校准功能
+ 功能强大的Ramacle®软件
+ 真共聚焦技术
+ 强大的扩展功能（兼具拉曼+荧光测试）（正置/倒置显微镜）
应用范围
生物医药
药品成分和分布状态分析；
原料检定；
生物相容性以及DNA/RNA分析；
药物/细胞相互作用；
微生物组织分析以及成像；
药片样品的拉曼表面成像以及成分分析（扑热息痛、阿司匹林、咖 啡因）
铃兰草根茎的双光子成像（左图）+荧光寿命成像（右图）
能源光伏
薄膜太阳能电池结构分析；
原位技术检测充放电；
硅光电池的晶化率分析；
电极材料的缺陷分析；
光伏器件碳纳米管空穴提取层（白光成像图（左）+荧光光谱成像图（右））
新型材料
材料本征应力/应变的特征；
物相晶型鉴别及结晶度测量；
环境传感以及地质学探究。
不同材料样品的成像（暗场成像、二次谐波成像、拉曼成像、PL成像）（从左到右）
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- 贴息贷款丨科研级模块化显微共聚焦拉曼光谱仪RMS1000
英国爱丁堡仪器
科研级模块化显微共聚焦拉曼光谱仪RMS1000
仪器介绍
RMS1000拉曼光谱仪是一台“开放式”研究级别的共焦显微拉曼光谱仪。在仪器系统中可配置多达5个集成的窄带激光器，另，可以连接外部激光器，以及用于荧光寿命测量的脉冲激光器。RMS1000是一个真正的共焦系统，具有可调节的电动狭缝和多个位置可调节的针孔，能实现更高的图像清晰度，更好的荧光抑 制，应用优化。
适用于新型半导体材料、生物分子（如蛋白质、多肽）等方面的研究，提供超高的光谱分辨率、空间分辨率和灵敏度。模块化的设计，结合拉曼成像技术（2D/3D/Surface Mapping）和荧光成像技术(FLIM)，实现全方位样品信息检测。
仪器特点
+ 模块化科研级拉曼光谱仪
+ 双焦长光谱仪可同时配置（800mm&250mm）
+ 最多耦合4个检测器（如CCD、EMCCD、InGaAs等）
+ 最多耦合5个内置激光器（配置外置激光器接口）
+ 内置标准物质和自动校准功能
+ 功能强大的Ramacle®软件
+ 真共聚焦技术
+ 强大的扩展功能（兼具拉曼+荧光测试）（正置/倒置显微镜）
应用范围
生物医药
药品成分和分布状态分析；
原料检定；
生物相容性以及DNA/RNA分析；
药物/细胞相互作用；
微生物组织分析以及成像；
药片样品的拉曼表面成像以及成分分析（扑热息痛、阿司匹林、咖 啡因）
铃兰草根茎的双光子成像（左图）+荧光寿命成像（右图）
能源光伏
薄膜太阳能电池结构分析；
原位技术检测充放电；
硅光电池的晶化率分析；
电极材料的缺陷分析；
光伏器件碳纳米管空穴提取层（白光成像图（左）+荧光光谱成像图（右））
新型材料
材料本征应力/应变的特征；
物相晶型鉴别及结晶度测量；
环境传感以及地质学探究。
不同材料样品的成像（暗场成像、二次谐波成像、拉曼成像、PL成像）（从左到右）
- 贴息贷款丨一体化全自动显微共聚焦拉曼光谱仪 RM5
英国爱丁堡仪器
一体化全自动显微共聚焦拉曼光谱仪 RM5
仪器介绍
RM5显微共聚焦拉曼光谱仪是一款紧凑型的全自动显微拉曼光谱仪，可以内置多达三个激光器。具有可调节的电动狭缝和多位可调节的共聚焦针孔，用于获取更高的图像清晰度，更好的荧光背景抑 制和更灵活的应用条件优化。
适用于新型材料、生物医药、物质鉴定等方面的测量，提供超高的光谱分辨率、空间分辨率和灵敏度，结合拉曼成像技术（2D/3D/Surface Mapping），实现全方位拉曼信息检测。
仪器特点
+ 紧凑型一体化分析级拉曼光谱仪
+ 多种配置一体化耦合
+ 内置标准物质和自动校准功能
+ 真共聚焦技术
+ 功能强大的Ramacle®软件
+ 高性能附件兼容（偏振组件、显微镜、样品台等）
应用范围
生物医药
药品成分和分布状态分析；
原料检定；
生物相容性；
药物/细胞相互作用；
铝箔上含有痕量扑热息痛颗粒的拉曼成像图
植物细胞木质素成像分布分析，A.白光图；B.成像图
能源光伏以及半导体材料表征
薄膜太阳能电池结构分析；
原位技术检测充放电；
电极材料的缺陷分析；
材料本征应力/应变的特征；
分散碳纳米管在晶圆上分布的拉曼成像（左）+硅基石墨烯单晶拉曼成像（右）
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- 进口品牌哪个市场占有率高？
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- 贴息贷款丨全功能模块化稳态瞬态荧光光谱仪FLS1000
英国爱丁堡仪器
全功能模块化稳态瞬态荧光光谱仪FLS1000
仪器介绍
爱丁堡全功能模块化稳态瞬态荧光光谱仪FLS1000拥有多种的测试功能，激发和发射谱扫描、同步扫描、动力学测定、三维荧光光谱、近红外光谱测试等。因此被广泛应用于晶体光谱学、半导体光谱学、激光光谱学、光量子器件研发、发光材料(PLED, OLED)研发、纳米材料研发、生物芯片研发及检测，是分析物质能级跃迁变化过程的有效手段。
仪器特点
+ 灵敏度(SQRT)：＞35000:1
+ 光谱测试范围：120 nm-5500 nm
+ 最小时间分辨率*：305 fs
+ 模块化设计、配置灵活、拓展性强、客制化的解决方案
人性化以及自动化
*计算方法：最小测试时间宽度/通道数 ( Ref: Birch D J S and Imhof R E 1999 1–95)
应用范围
基础表征
有机长余辉材料
Nature Photon 13, 406–411 (2019)
能源科学
钙钛矿材料
Science 376, 416–420 (2022)
发光材料
室温磷光材料
Angew. Chem. Int. Ed. 2022, e202202977
生物医学
近红外二区染料
Nature Nanotech 13, 941–946 (2018)
显示材料
热活化延迟荧光（TADF）
Nature Photon 12, 235–240 (2018)
- 共聚焦的共焦显微
- 共焦显微拉曼光谱仪与拉曼光谱仪有什么区别
- 荧光显微系统的新高度——Luminosa单光子计数共聚焦显微
过去的几十年中，德国PicoQuant的研发人员一直致力于制造最具定量性和重复性的时间分辨荧光显微镜系统。现在他们终于迈出了这一步，完成了一套更易于使用、且不影响灵敏度的系统。该系统打破常规，无需培训物理学支持人员便可轻松使用。全新的Luminosa可以让每个分子生物物理学或结构生物学研究人员轻松地将单分子和时间分辨荧光显微镜的方法添加到他们的“工具箱”中。
Luminosa系统的主要功能包括一键式自动对准程序和基于上下文的直观工作流程。例如，系统可以自动识别单个分子，或者它可以自动确定单个分子FRET (smFRET) 的校正因子。
对于经验丰富的专家，它仍具有先进的灵活性。所有光机组件均可访问，数据以开放格式存储，工作流程和图形用户界面均可定制。用户可以完全访问实验参数，例如可调节的观察量。
全新的Luminosa本身就是一套时间分辨荧光显微的多功能“工具箱”。它用于单分子水平的动态结构生物学研究。这些方法包括荧光寿命成像 (FLIM)、用于快速过程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、单分子FRET（突发和时间跟踪分析）、荧光相关光谱 (FCS)、各向异性成像和微分干涉对比 (DIC) 成像。
随着时间分辨荧光显微技术的用户群体不断扩大，对高重复性、高准确性和宝贵实践经验规则的需求变得尤为明显。Luminosa已经包含了科学家集体努力制定的经验指南，例如来自于单分子FRET群体在基准研究中的经验指南。
Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。
产品特点：
◆ 全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜
◆ 激光波长从375到1064 nm可选
◆ VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验
◆ 电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”
◆ 扫描选项：FLIMbee振镜扫描和压电物镜扫描
◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元
◆ <700 ps通道的死区时间和5 ps时间分辨率
◆ 一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能◆ 借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果
产品领域：
◆ 单分子水平的动态结构生物学
◆ 相分离驱动的细胞机制
◆ 环境传感◆ 细胞膜动力学和结构的映射
核心方法：
◆ 荧光寿命成像 (FLIM)
◆FLIM-FRET – 基于寿命的Förster共振能量转移
◆smFRET – 单分子Förster共振能量转移
◆荧光相关光谱(FCS)
◆荧光寿命相关光谱(FLCS)
◆荧光互相关光谱(FCCS)◆各向异性成像
为此，德国PicoQuant公司特邀产品经理Evangelos Sisamakis博士在2022年10月6日-10月7日进行2场线上新品演示推广研讨会，重点介绍Luminosa是如何让每个分子生物物理学或结构生物学研究人员轻松地将单分子和时间分辨荧光显微镜的方法添加到他们的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法的科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。欢迎各位有兴趣的研究人员报名注册https://www.picoquant.com/events/workshops-and-courses/category/webinar#luminosa 。
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- 基于共聚焦显微技术的显微镜和荧光显微镜的区别
荧光显微镜主要应用在生物领域及医学研究中，能得到细胞或组织内部微细结构的荧光图像，在亚细胞水平上观察诸如Ca2+ 、PH值，膜电位等生理信号及细胞形态的变化，是形态学，分子生物学，神经科学，药理学，遗传学等领域中新一代强有力的研究工具。
以共聚焦技术为原理的共聚焦显微镜，是用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。
材料科学的目标是研究材料表面结构对于其表面特性的影响。因此，高分辨率分析表面形貌对确定表面粗糙度、反光特性、摩擦学性能及表面质量等相关参数具有重要意义。共焦技术能够测量各种表面反射特性的材料并获得有效的测量数据。
VT6000共聚焦显微镜基于共聚焦显微技术，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，可以对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，实现器件表面形貌3D测量。在材料生产检测领域中能对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
应用
1.MEMS
微米和亚微米级部件的尺寸测量，各种工艺（显影，刻蚀，金属化，CVD， PVD，CMP等）后表面形貌观察，缺陷分析。
2.精密机械部件，电子器件
微米和亚微米级部件的尺寸测量，各种表面处理工艺，焊接工艺后的表面形 貌观察，缺陷分析，颗粒分析。
3.半导体/ LCD
各种工艺（显影，刻蚀，金属化，CVD，PVD，CMP等）后表面形貌观察， 缺陷分析 非接触型的线宽，台阶深度等测量。
4.摩擦学，腐蚀等表面工程
磨痕的体积测量，粗糙度测量，表面形貌，腐蚀以及亚微米表面工程后的表面形貌。
- 激光共聚焦显微技术可以用来研究哪些植物病理学问题
- 热点应用丨OLED的光致发光和电致发光共聚焦成像
要点
光致发光和电致发光是有机发光二极管（OLED）视觉显示发展的重要技术。
与共聚焦显微镜相结合，使用RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪对OLED器件的光电特性进行成像研究。 光谱和时间分辨成像获得了比宏观测试更详细的器件组成和质量信息。 介绍
近年来，有机发光二极管（OLED）已成为高端智能手机和电视全彩显示面板的领先技术之一1。使用量的快速增长是因为OLED提供了比液晶显示器（LCD）更卓 越的性能。例如，它们更薄、更轻、更灵活、功耗更低、更明亮2。
在典型的OLED器件中，电子和空穴被注入到传输层中，然后在中心掺杂发光层中复合。这种复合产生的能量通过共振转移到掺杂分子中，从而使其发光。OLED发光的颜色取决于发光层中所掺杂分子的化学结构。当新的有机电致发光器件开发出来时，可以利用光致发光（PL）和电致发光（EL）光谱来表征单个元件和整个器件的光电特性。 在本文中，RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪用于表征四种成像模式下OLED器件的光电特性：PL、EL、时间分辨PL（TRPL）和时间分辨EL（TREL）。使用共聚焦显微拉曼光谱仪来表征OLED的光谱和时间分辨特性获得了比宏观测试更详细的信息。 材料和方法
测试样品为磷光OLED器件，由圣安德鲁斯大学有机半导体光电研究组提供。将样品放置在冷热台（LINKAM）上，通过两个钨探针连接到器件电极上实现成像。使用RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪进行PL、EL、时间分辨PL（TRPL）和时间分辨EL（TREL）成像，如图1。
图1 PL、TRPL、EL和TREL成像的实验装置。
将装载样品的冷热台放置在显微镜样品台上，如图2所示。对于PL测试，使用532 nm CW激光器和背照式CCD探测器；对于TRPL测试，使用外部耦合的EPL-405皮秒脉冲激光器、MCS模式和快速响应的PMT。 对于EL测试，使用Keithley 2450 SMU向OLED器件加电压，并用CCD探测器检测；对于TREL测试，使用Tektronix 31102 AFG向OLED加一系列短脉冲电压，使用MCS模式测试每个脉冲下的衰减。
图2 (a)安装在RMS1000上的冷热台；(b) OLED器件电致发光宽场成像。
测试结果与讨论
大面积光致发光和电致发光光谱成像
OLED首次采用PL和EL光谱相结合的方法进行研究。当使用共聚焦显微拉曼光谱仪成像时，可以表征材料在整个器件中的分布以及在发光强度和颜色均匀性方面的整体质量。图3中的PL成像和相应的光谱提供了器件上4个区域发光层分布的信息，还显示了电极的位置。
图3 (a)OLED器件的PL光谱强度成像；(b)a中标记的点1和点2的PL光谱。
白色和灰色代表PL强度，显示了有机发光层的位置。灰色区域为发光层被顶部电极覆盖的位置。在顶部电极穿过发光层的地方，PL强度降低为未覆盖区域强度的一半以下。这是由于顶部电极材料削弱了激光强度和光致发光强度。
对于EL成像，钨探针连接到与区域2相交的电极上。图4中得到的EL图像和相应的光谱表明了EL发光仅发生在区域2中的发光层与电极重叠的区域。在PL成像中，空间分辨率主要取决于样品上激光光斑的大小。而在EL成像中，由于没有激光，因此是通过改变共焦针孔直径来改变空间分辨率（将针孔直径减小到25 μm）。
图4 (a)OLED器件的EL光谱强度成像；(b)a中标记的点1和点2的EL光谱。
EL强度在整个有源像素上不均匀，这对器件的质量有影响。在区域外边缘有两个（白色）垂直条带，强度比其余部分强。此外，存在许多EL强度降低的非发光区域。这表明器件有缺陷，理想情况下，OLED将在每个像素上呈现出密集和均匀的发光。 高分辨率光致发光和电致发光光谱成像 为了进一步研究，使用PL和EL对EL有源像素上的较小区域（图5a和图5b）进行高分辨成像。图5b网格内的上部区域是发光层与电极重叠的地方，下部区域是单独的发光层。 图5c为 PL强度成像，再次表明被电极覆盖的发光层PL强度小于未覆盖的发光层。PL峰值波长图像（图5d）表明，有电极覆盖的发光层与未覆盖的发光层（611 nm）相比，PL发射峰发生红移（620 nm）。峰值波长的变化表明在不同的区域中能级不同。 图5 (a) OLED器件电致发光宽场成像；(b)a网格内的高分辨率宽场成像；(c)PL强度成像；(d)相同区域的PL峰值波长成像；(e)EL强度成像；(f)相同区域的EL峰值波长成像。
EL成像显示，与其余部分相比发射强度较弱的缺陷（图5e）波长发生明显红移（图5f）。这是由于缺陷处的EL能带的信号强度降低以及在662 nm处EL能带信号强度同时增加引起的。另外，在EL有源区域的最 底部的区域中，发生蓝移，这与在PL图像上看到的波长变化一致。 高分辨率时间分辨光致发光和电致发光成像 为获得额外信息，在同一区域进行TRPL和TREL成像，如图6所示。分别用激光脉冲和电脉冲，在MCS模式下测试614 nm处OLED的PL和EL衰减。利用单指数模型拟合衰减曲线。 在图6a的TRPL成像中，EL活性区域（上部区域）中的PL寿命比EL非活性区域（下部区域）中的PL寿命短大约200 ns。如图6c所示，分别为800 ns和600 ns。这里观察到与图4中PL强度和波长图像的类似梯度，沿图向下方向的发射强度增强，并且发生了蓝移。因此，根据TRPL数据可得：当光激发时，通过掺杂带可获得不同的能级。在图6b中的TREL成像中，整个区域的寿命相似，大约为470 ns。发现EL寿命显著短于相同区域的PL寿命。 图6 (a)OLED的时间分辨PL成像；(b)OLED的时间分辨EL成像；(c)a中选定区域的PL衰减曲线；(d)b中图像的EL衰减曲线。
结论
RMS1000共聚焦显微拉曼光谱仪用于测试OLED器件的PL、EL、TRPL和TREL成像。这些不同的成像模式提供了关于发光层和电极在整个器件中位置的详细信息，在工作条件下器件的发光强度和颜色均匀性，以及关于PL和EL过程中带隙能量的相对信息。
参考文献
1. A. Salehi et al., Recent Advances in OLED Optical Design, Adv. Funct. Mater., 2019, 29, 1808803, DOI: 10.1002/adfm.201808803.
2. J. M. Ha et al., Recent Advances in Organic Luminescent Materials with Narrowband Emission, NPG Asia Mater., 2021, 13, 1–36, DOI: 10.1038/s41427-021-00318-8.
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沪公网安备 31011502008050号
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