会议通知 | 低能量反光电子能谱（LEIPS）国际研讨会

对于半导体材料/器件而言，带隙调控和能级排列对有效界面接触和载流子（空穴/电子）注入能力以及输运特性至关重要，因而很有必要利用反光电子能谱（IPES）结合紫外光电子能谱（UPS）对半导体材料/器件的电子能带结构进行全面表征。

为帮助用户更好地了解和应用低能量反光电子能谱（LEIPS）分析技术，ULVAC-PHI拟于2023年6月20日召开“International LEIPS Workshop (ZOOM)”线上研讨会，本次会议有幸邀请到日本千叶大学吉田·弘幸 (Yoshida Hiroyuki)教授等专家带来精彩报告。诚邀广大专家学者和科研人员积极与会，届时分享、交流和学习相关经验和技能。

IPES是一种能够精确检测固体材料未占据态的实验方法。其原理是利用特定动能的电子入射到样品表面，并检测由于电子跃迁到特定的未占据态而发射的光子。然而，传统的IPES带通光子探测器能量分辨率较低，且入射电子能量高容易对样品造成损伤，使得IPES的应用受到限制。对此，ULVAC-PHI公司和Yoshida教授合作推出了低能量反光电子能谱（LEIPS），入射的电子动能在0~4 eV之间，发射的光子为波长大于250 nm的近紫外(NUV)，并采用多层介电干涉滤光片（band pass filter）检测光子，不仅可以在不损失灵敏度的情况下提高能量分辨率，还可显著降低电子辐照对有机样品的损伤。这简直是半导体行业特别是有机半导体领域从业人员的福音！

特邀嘉宾

吉田·弘幸(Yoshida Hiroyuki)

教授 日本千叶大学

研究领域：有机半导体电子物性

吉田·弘幸教授于东京大学-大学院理学系-研究科获取博士学位(理学)。曾任法国国立科学研究中心(CNRS)研究员、京都大学化学研究所助教等。2015年起担任千叶大学-大学院融合科学研究科教授。2012年开发了低能量反光电子能谱。荣获应用物理学会有机分子生物电子分会论文奖、有机EL讨论会成就奖。

会议时间

2023年6月20日中国时间8:00-11:00（线上，ZOOM）

报名方式

请扫描下方二维码报名

（只有报名人员才能获取会议链接）

链接：(https://us06web.zoom.us/webinar/register/WN_1wdraeRcRyyA0eMJcQofHg#/registration)

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