会议通知 | 低能量反光电子能谱（LEIPS）国际研讨会

感谢各位百忙之中阅读此邀请文。ULVAC-PHI将于2023年6月20日首次线上（ZOOM）召开“International LEIPS Workshop”线上研讨会，时长3小时15分钟，可随时入室参与研讨会。

为了更好地结合表面分析技术解决问题，帮助用户更好地了解和应用低能量反光电子能谱（LEIPS）分析技术，本次会议有幸邀请到日本千叶大学吉田·弘幸 (Yoshida Hiroyuki)教授以及3位专家带来精彩报告。诚邀广大专家学者和科研人员积极与会，届时分享、交流和学习相关经验和技能。

LEIPS应用

LEIPS是采用低能量电子（小于5 eV）入射到样品表面，通过对出射光子进行检测，从而获取样品导带（CB/LUMO）和电子亲和势（EA）的信息。ITO薄膜是现有的TCO薄膜中导电性能最 好的产品之一，被广泛应用于触摸屏、LED显示屏和太阳能电池等领域。然而IO:H作为ITO的替代材料，在红外光区的吸收率更低的机理并不明确。PHI XPS搭载紫外光电子能谱（UPS）和LEIPS全面地表征了样品相对于真空能级的能带电子结构（如图）。结果显示这两种薄膜的费米能级、带隙以及电子亲和势都没有明显差异。但是，从放大的费米能级附近的谱图表明IO:H的费米能级附近的电子态密度也较低，这可能是造成红外光吸收率差异的主要因素。综上，PHI XPS可实现对样品的原位综合分析，快速评估样品性能，从而辅助不同行业的从业人员以及研究人员进行深入研究先进材料。

会议时间
2023年6月20日 北京时间上午8：00（7：30开放加入会议）

举行方式

线上会议，ZOOM

(ZOOM的PC客户端 下载链接：https://zoom.us/download#client_4meeting)

报名方式

请扫描下方二维码报名

（只有已报名人员后续才能获取来自no-reply@zoom.us发送的会议链接）

报名链接：(https://us06web.zoom.us/webinar/register/WN_1wdraeRcRyyA0eMJcQofHg#/registration)

报名将于6月19日截止

注意事项

① 本次会议全程用英语进行

② 请报名者在会议召开前下载ZOOM

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