供应商：山东利达信仪器仪表设备有限公司

产品/二探针电阻率测试仪/两探针仪 （测锗）型号：LDX-KDK-KDY-2LDX-KDK-KDY-2型产品（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面zui大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量精度一般优于四探针法。整套仪器有如下特点1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更方便，...

供应商：北京亿百万电子有限公司

产品名称：产品 电阻率测试仪 两探针测试仪产品型号: DL03-KDY-2产品编号: 30503 产品 电阻率测试仪 两探针测试仪  的详细介绍1）测量范围： 可测硅晶体电阻率：0.005-50000Ω·cm 可测硅棒尺寸：zui大长度300mm；直径20mm（均可按用户要求更改）。 （2）恒流源： 输出电流：DC0.001-100mA 五档连续可调 量程： 0.001-0.01mA（1-10μA） 0.01-0.1mA（10-100μA） 0.1-1.0mA 1.0-10mA 10-100mA 恒流精度：各档均优于±0.05% （3）直流数字电压表： 测量范围：0-199.99mV 灵敏度：10μA 基本误差：±（0.004%读数±0.01%满度） 输入阻抗：≥0.3% （4）电阻测量误差：≤0.3% （5）两探针头：KDT-9 探针间距：1.59...

供应商：北京恒奥德科技有限公司

产品/二探针电阻率测试仪/两探针仪 （测锗） 型号：KDK-KDY-2KDK-KDY-2型产品（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面Z大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量精度一般优于四探针法。整套仪器有如下特点1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更方便，测量更精确。数字电压表量程：0...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

产品/二探针电阻率测试仪/两探针仪 （测锗） 型号：KDK-KDY-2KDK-KDY-2型产品（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面Z大尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端进出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量精度一般优于四探针法。KDK-KDY-2型产品整套仪器有如下特点1、配有双数字表：一块数字表在测量显示电压的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作...

供应商：北京中慧天诚科技公司

红宝石两探针头（产品配件）间距1.59mm探针合力4～10N 型号：GDSKDT-9货号：ZH463 一、特点 1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 二、用途 1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。 2、 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。 三、探针间距 ...

供应商：北京中慧天诚科技公司

红宝石两探针头（产品配件）间距1mm探针合力4～6N 型号：GDSKDT-8货号：ZH462 一、特点 1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 二、用途 1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。 2、 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。 三、探针间距 ...

供应商：北京中慧天诚科技有限公司

红宝石两探针头（产品配件）间距1.59mm探针合力4～10N 型号：ZH463 货号：ZH463 产品简介 一、特点 1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。树脂动态粘度计 3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 二、用途 1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。 ...

供应商：北京中慧天诚科技有限公司

红宝石两探针头（产品配件）间距1mm探针合力4～6N 型号：GDSKDT-8   货号：ZH462 产品简介 一、特点 1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 二、用途 1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻...

供应商：北京中慧天诚科技有限公司

ZH462型红宝石两探针头（产品配件）间距1mm探针合力4～6N 产品特点 1.使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2.控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3.采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。 4.量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。 用途 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻...

供应商：北京中慧天诚科技有限公司

产品简介 一、特点1、 使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。2、 控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。3、 采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。4、 量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内稳定运动，持久耐磨。二、用途1、 测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率，测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。2、 测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。三、探针间距1、 直线四探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm2、 方形四探针…………… 1.00mm3、 直线三探针…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm4、 两探针    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm四、技术指标1、 游移率   3、 zui大针与导孔间隙：0.006mm4、 探针材