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- 型号: CHY-C2塑料薄膜测厚仪
- 产地:塑料薄膜
- 供应商:无锡市君达仪器有限公司
CHY-C2测厚仪-塑料薄膜-纸张-铝箔-高精度测厚仪单价:32000元CHY-C2测厚仪采用接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。CHY-C2测厚仪严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制CHY-C2测厚仪测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告CHY-C2测厚仪该设备满足多项
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薄膜测厚仪/厚度测量仪/产品价格薄膜测厚仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不适用于压花的薄膜和薄片。产品特点 薄膜测厚仪外型美观,结构科学合理,使用安全可靠. 薄膜测厚仪/厚度测量仪/产品价格产品应用 薄膜测厚仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准 薄膜测厚仪参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》,该国家标准修改采用国际标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数 测量范围:0~10mm 分度值0.001mm; 测头端部的力: (1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N; (2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5...
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