

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、无纺布、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
技术特征
l 搭载5寸IPS触控屏,采用进口MEAS差动电感式位移传感器分辨率0.1um.
l 测试过程按用户设定程序,测量头自动升降测量,测量数据自动打印
l 支持同组数据100个测量点数据采集,支持500组数据存储/查询
l 支持多级用户权限管理,测试数据历史记录可查询,可审计追踪。
l 实时显示测量结果的zuida值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
l 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
l 可选配自动进样装置,实现无人工操作,系统全自动测量
l 配备USB接口,专业测控软件、可通过软件操控仪器完成各项测量

测试标准 该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2
基础应用
薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等
技术指标
测试范围 :0~2 mm(常规) 0~6 mm;12 mm(可选)
分辨率 :0.1 μm
测试压力: 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积 :50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张);2500mm2(无纺布)
注:薄膜、纸张、无纺布任选一种;非标可定制
电源: AC 220V 50Hz
外形尺寸: 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
净重: 32 kg
产品配置:主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头





报价:¥1000
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KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度测量仪,采用光谱反射技术,测量范围覆盖1纳米至3毫米,具备一键操作、非接触测量及多层结构分析能力,广泛应用于半导体、OLED、光伏、生物医学等领域,兼具高精度与易用性。
产品特性: •薄膜行业厚度测量标准配置,适用于高精度测量,内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量,避免人为因素干扰,提高精度,数值自动上传电脑保存,可实现测量过程无人值守,减负增效 • 测量精度高,分辨率可达0.1μm • 测量速度快,结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级,精度高,质地硬,永不生锈 • 德国Mahr的品质保证,可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0,具有数据管理,用户管理等强大功能 软件特性:Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录测量值,并计算Z大值,Z小值,平均值,偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能,可设置不同的人员权限,有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能,测量数据及相关产品、人员信息永久保存,便于测量数据的追踪和溯源