「NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪」价格、参数、图片

NS-20系列是桌面式手动膜厚测量分析系统。在保证整体小巧轻盈的同时，其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能，极具性价比。

NS-20 特色

手动测量，极高灵活度

标准版光斑0.8~1.5 mm

可升级到0.2 mm 微小光斑（NS-20 Pro)

可定制便携手提箱，随时随地进行膜厚分析
可选配大尺寸样品台

NS-20系列参数规格

型号	NS-20UV	NS-20	NS-20NIR
波长范围	190 nm – 1100 nm	380 nm – 1050 nm	950 nm – 1700 nm
厚度测量范围1	1 nm – 40 μm	15 nm – 80 μm	150 nm – 250 μm
准确度2	1 nm 或 0.2%	2 nm 或 0.2%	3 nm 或 0.4%
精度3	0.02 nm	0.02 nm	0.1 nm
稳定性4	0.05 nm	0.05 nm	0.12 nm
光斑大小	1.5 mm	1.5 mm	1.5 mm
测量速度	< 1s（单次测量）	< 1s（单次测量）	< 1s（单次测量）
光源	卤钨灯 + 氘灯	卤钨灯	卤钨灯
样品尺寸	直径从1mm 到 300mm或更大	直径从1mm 到 300mm或更大	直径从1mm 到 300mm或更大

1 取决于具体材料

2 Si/SiO2(500~1000nm)标样片

3 计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差，对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均

4 计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值，对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差

广州德准薄膜测厚仪全自动C1202

产品特性： •薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效 • 测量精度高，分辨率可达0.1μm • 测量速度快，结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈 • 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能软件特性：Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计可实时显示记录测量值，并计算Z大值，Z小值，平均值，偏差值等一系列参数软件自动绘制厚度曲线和偏差图测量结果可导出至Excel表格软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息永久保存，便于测量数据的追踪和溯源

NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪

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