广州德准薄膜测厚仪全自动C1202

反射式膜厚测量分析系统 NanoSense

应用领域

NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪

NS-Touch 弯曲表面膜厚仪（手持）

反射透射测量双通道膜厚仪NS-Vista

苏州悉识 NS-OEM系列（膜厚测量套件）

广州德准薄膜测厚仪全自动C1202

产品特性： •薄膜行业厚度测量标准配置，适用于高精度测量，内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量，避免人为因素干扰，提高精度，数值自动上传电脑保存，可实现测量过程无人值守，减负增效 • 测量精度高，分辨率可达0.1μm • 测量速度快，结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级，精度高，质地硬，永不生锈 • 德国Mahr的品质保证，可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0，具有数据管理，用户管理等强大功能 软件特性：Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录测量值，并计算Z大值，Z小值，平均值，偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能，可设置不同的人员权限，有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能，测量数据及相关产品、人员信息永久保存，便于测量数据的追踪和溯源

广州德准薄膜测厚仪全自动精密测厚仪

全自动薄膜测厚仪，天然大理石工作台，另有除尘除静电机构。自动进膜，配套测量仪软件，自动记录数据，节省人工和时间。薄膜测厚精准，达到0.01微米