测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
测厚仪参照标准:
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
测厚仪参数:

报价:¥2
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产品特性: •薄膜行业厚度测量标准配置,适用于高精度测量,内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量,避免人为因素干扰,提高精度,数值自动上传电脑保存,可实现测量过程无人值守,减负增效 • 测量精度高,分辨率可达0.1μm • 测量速度快,结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级,精度高,质地硬,永不生锈 • 德国Mahr的品质保证,可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0,具有数据管理,用户管理等强大功能 软件特性:Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录测量值,并计算Z大值,Z小值,平均值,偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能,可设置不同的人员权限,有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能,测量数据及相关产品、人员信息永久保存,便于测量数据的追踪和溯源
全自动薄膜测厚仪,天然大理石工作台,另有除尘除静电机构。自动进膜,配套测量仪软件,自动记录数据,节省人工和时间。薄膜测厚精准,达到0.01微米