ITO薄膜测厚仪 台式薄膜厚度测量仪

【ITO薄膜测厚仪 台式薄膜厚度测量仪】0531-85068566

ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的ITO薄膜测厚仪，采用机械接触式测量方式，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

ITO薄膜测厚仪技术特征：

① C640M型号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm 

重复性：0.8μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

净重：26kg

② C640H型号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1μm

重复性：0.4μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)

净重：26kg

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