Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪
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Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪产品介绍：
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪产品特点优势：
结合显微镜的膜厚测量系统，光斑小至一微米的测量精度；
匹配市面多数的显微镜连接使用；
清晰且直观地观察样品并确认测量位置；
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪测量原理：
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪产品应用与膜层范例：
薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等
薄膜种类：透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气
薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量
薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪产品常见工业应用：
半导体制造 | 生物医学元件 | MEMS微机电系统 | LCD液晶显示器 |
光刻胶 | 聚合物 | 光刻胶 | 盒厚 |
氧化物/氮化物 | 聚对二甲苯 | 硅膜 | 聚酰亚胺 |
硅 | 生物膜/气泡墙厚度 | 氮化铝 | ITO导电透明膜 |
半导体膜层 | 植入药物涂层 | 氧化锌薄膜滤镜 |
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪产品参数：
波长范围： | 190nm-1690nm | 光源： | 内部显微镜光源 |
测量nk值最小厚度 | 50nm | 测量精度： | 0.02nm |
稳定性： | 0.05nm | 准确度*：取较大者 | 50nm |
更多参数可联系我们获取 | |||
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪测量图：
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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论⽣产线操作⼈员还是研发技术⼈员都能在⼏秒钟内检测和记录涂层厚度情况。
Filmetrics F10-HC膜厚仪专为减反层薄膜的精确测量而设计，采用优化的光谱分析技术，可快速精准测量各类减反射涂层的厚度与光学性能，为光学元件、显示面板及太阳能行业提供专业的质量控制方案。
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。
Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。
MFPM001测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
在线镀锌层测厚仪，在线钢丝镀锌测厚仪，在线硅钢干膜测厚仪
激光测量系统，具有：在线，动态，非接触，无损伤，高精度的测量功能 测量范围广泛，可用于各种金属制品生产线、塑料膜挤出、嵌镶板、压模木板、地毯、PVC、橡胶压制等生产线。透明塑料薄膜,测量不受灰尘、振动等外界环境的影响。 对于被测材料的内部结构和表面是否平整没有要求。
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沪公网安备 31011502008050号