测厚仪-幂方科技MFPM001测厚仪
电子封装设备-幂方科技MF-FE1000柔性电子封装设备
磁控等离子溅射仪 MFDC680幂方科技磁控等离子溅射仪
紫外线老化试验箱-幂方科技MFUV280紫外线老化试验箱
柔性电子测试仪-幂方科技MF-FT3000柔性电子测试仪
设备简介
MFPM001 测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
产品特征
· 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
· 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
· 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
· 可选系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
· 实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
· 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
· 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
· 5寸触摸屏操控,方便用户进行试验操作和数据查看
· 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据
测试标准
该仪器符合多项国家和国际标准:GB/T6672、GB/T 451.3.GB/T6547、1S0 4593.1S0 534.ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777TAPP!T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
测试应用
基础应用:
薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等
扩展应用(需特殊附件或改制):
量程扩展至5 mm、10mm,适用于溅试薄膜、片材的厚度
曲面测量头,满足特殊场合的厚度测试
技术指标
测试范围:
0-2 mm(常规)
0~6mm:12mm(可选)
分辨率:0.1um
测量压力:17.5士1kPa(薀膜)50士1kPa(纸张)
接触面积:50 mm2(德膜):200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000 mm
进样速度:0.1~99.9 mm/s
电源:AC 220V50 Hz
外形尺寸:461 mm(L}x334 mm{W}x357mm(H)
净重:25kg
报价:面议
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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论⽣产线操作⼈员还是研发技术⼈员都能在⼏秒钟内检测和记录涂层厚度情况。
Filmetrics F10-HC膜厚仪专为减反层薄膜的精确测量而设计,采用优化的光谱分析技术,可快速精准测量各类减反射涂层的厚度与光学性能,为光学元件、显示面板及太阳能行业提供专业的质量控制方案。
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得厚度及光学参数值。
Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,可以使用Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统。使用先校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得厚度及光学参数值。
MFPM001测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
在线镀锌层测厚仪,在线钢丝镀锌测厚仪,在线硅钢干膜测厚仪
激光测量系统,具有:在线,动态,非接触,无损伤,高精度的测量功能 测量范围广泛,可用于各种金属制品生产线、塑料膜挤出、嵌镶板、压模木板、地毯、PVC、橡胶压制等生产线。透明塑料薄膜,测量不受灰尘、振动等外界环境的影响。 对于被测材料的内部结构和表面是否平整没有要求。