薄膜厚度测量仪

Filmetrics F20膜厚仪是一款兼具优异性价比与出色便携性的单点测量设备，广泛应用于半导体、材料研发及质量控制领域。其操作简便、测量快速，为各类薄膜厚度检测需求提供了经济可靠的解决方案。

HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制...

Filmetrics F54-XYT-300 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以快速轻松地测量300 x 300mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，速...

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您...

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到...

Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小...

HORIBA Smart SE 椭圆偏振光谱仪是一种薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀...

HORIBA Auto SE 椭圆偏振光谱仪是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均...

Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限...

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置...

第四代FilmSense FS-8 多波长椭偏仪使用长寿命的LED光源和无移动部件的椭圆偏振探测器。在便携的紧凑型系统中提供快速而可靠的薄膜测量。通过简单的1秒测量，可以以很高的精度和准确度测定大多数...

Filmetrics F10RT膜厚仪采用独特双光谱测量技术，可同时测量薄膜的反射率和穿透率。该设备适用于透明/半透明基板上的薄膜分析，为光学镀膜、显示技术及半导体行业提供更全面的薄膜特性分析数据，...

Filmetrics F10-HC膜厚仪专为减反层薄膜的精确测量而设计，采用优化的光谱分析技术，可快速精准测量各类减反射涂层的厚度与光学性能，为光学元件、显示面板及太阳能行业提供专业的质量控制方案。

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测...

Filmetrics F32 四通道在线式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本至多两个位置)。F32膜厚仪软件...

Filmetrics F60-t 自动膜厚仪就像我们的F50自动膜厚仪产品一样。主要测绘薄膜厚度和折射率。但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装...