Filmetrics膜厚测量仪

Filmetrics F20膜厚仪是一款兼具优异性价比与出色便携性的单点测量设备，广泛应用于半导体、材料研发及质量控制领域。其操作简便、测量快速，为各类薄膜厚度检测需求提供了经济可靠的解决方案。

Filmetrics F54-XYT-300 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以快速轻松地测量300 x 300mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，速...

Filmetrics F54-XY-200 全自动Mapping膜厚分布测量系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您...

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点便携式膜厚仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到...

Filmetrics F40 显微集成式微小区域薄膜测厚系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小...

Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限...

Filmetrics F10RT膜厚仪采用独特双光谱测量技术，可同时测量薄膜的反射率和穿透率。该设备适用于透明/半透明基板上的薄膜分析，为光学镀膜、显示技术及半导体行业提供更全面的薄膜特性分析数据，...

Filmetrics F10-HC膜厚仪专为减反层薄膜的精确测量而设计，采用优化的光谱分析技术，可快速精准测量各类减反射涂层的厚度与光学性能，为光学元件、显示面板及太阳能行业提供专业的质量控制方案。

Filmetrics F3-sX 专业厚膜测量系统利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测...

Filmetrics F32 四通道在线式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本至多两个位置)。F32膜厚仪软件...

Filmetrics F60-t 自动膜厚仪就像我们的F50自动膜厚仪产品一样。主要测绘薄膜厚度和折射率。但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装...

Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论⽣产线操...

Filmetrics F50 全自动Mapping薄膜厚度测量系统 依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测...

Filmetrics F54 微区自动测量系统能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线...