供应商：苏州晶格电子有限公司

是否提供加工定制是类型数字式电阻测量仪表 品PaiJG晶格型号ST2258A型多功能产品 测量范围电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10000 Ω-cm（MΩ） 测试电压0-2（V） 精度0.5重量0.5（kg） ST2258A型多功能产品简介一、结构特征二、概述ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；...

供应商：苏州晶格电子有限公司

是否提供加工定制是类型电参数测量仪 品PaiJG晶格型号ST2258B型便携式多功能产品 测量范围电 阻 率：1.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-c分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103测量精度±0.5%FSB±1LSB 功率0.005（KW） 频率50（HZ） 重量0.5（kg） 尺寸外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm（mm） 电源220工作电源：220V±10％, f=50Hz ST2258B型便携式多功能产品简介一、结构特征本款为便携式，见附图二、概述ST2258B型便携式多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器...

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

【简单介绍】DP-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。【详细说明】多功能产品/产品/四探针电阻率测试仪 型号：DP-ST2258A概述　　DP-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类　　仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1...

供应商：北京西润斯仪器仪表有限公司

多功能产品/产品/四探针电阻率测试仪 型号：XRS-ST2258A 概述　　XRS-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类　　仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 ...

供应商：山东利达信仪器仪表设备有限公司

新款 多功能产品/产品/四探针电阻率测试仪 半价 型号：LDX-ST2258A概述　　LDX-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类　　仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： ...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

简易四探针测试仪 产品 四探针电阻测量仪 型号:DL10-STZ-4产品，是二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。(客户根据不同的要求可以选择不同的量程，Z小可以测量0.0001ΩZ大可以测量100000Ω,根据电流档定精度)通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。SZT－4产品，体形小巧，操作方便，量程适中，十分适於对重炼回料的分选。本仪器工作环境条件为：　　温　　度：18℃―25℃相对湿度：60%－80%工作室内应无强电场干扰，不与高频设备共用电源。二，技术参数1,测量范围电 阻 率 0....

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

数字式四探针测试计/产品 　型号：SZB-SX1934产品特点 四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 四探针测试仪 测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω 可测晶片直径（Z大） φ100mm(标配)，方形230×220mm(Z大) Z大电阻测量误差(按JJG508-87)0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

数字式四探针测试计/产品 　型号：SZB-SX1934产品特点 四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω 可测晶片直径（Z大） φ100mm(标配)，方形230×220mm(Z大) Z大电阻测量误差(按JJG508-87)0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%...

供应商：北京同德创业科技有限公司

数字式四探针测试计/产品 　型号：TG-SX1934 产品特点  四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。  仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。  测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω  可测晶片直径（Z大） φ100mm(标配)，方形230×220mm(Z大)  Z大电阻测量误差(按JJG508-87) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数...

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

【简单介绍】四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。【详细说明】数字式四探针测试计/产品 　型号：DP-SX1934产品特点 四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。 测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□（可扩展/extended range） 方块电阻（薄层电阻） /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω 可测晶片直径（Z大...