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产品/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：TC-SZT-2000 TC-SZT-2000A型产品是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状 半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。 仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。 仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。 仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测...

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【简单介绍】仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。【详细说明】产品/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：DP-SZT-2000DP-SZT-2000型产品是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头...

供应商：北京亚欧德鹏科技发展有限公司

产品/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：DP-SZT-2000DP-SZT-2000型产品是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结...

供应商：北京亚欧德鹏科技有限公司

产品/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：DP-SZT-2000DP-SZT-2000型产品是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结...

供应商：山东利达信仪器仪表设备有限公司

产品/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：LDX-HHY8-SZT-2000LDX-HHY8-SZT-2000型产品是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10-6--105Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者专用工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。仪器具有测量精度高...

供应商：北京润恒奥仪器仪表设备有限公司

多功能产品/产品/四探针电阻率测试仪 型号：RHA-ST2258A概述　　RHA-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类　　仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω...

供应商：北京西润斯仪器仪表有限公司

多功能产品/产品/四探针电阻率测试仪 型号：XRS-ST2258A厂家直销概述　　XRS-ST2258A型多功能产品是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。　　本测试仪特赠设测试结果分类功能，Z大分类10类　　仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。基本技术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×1...

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数字式四探针测试计/四探针测试计/产品　型号：SZB-SX1934B数字式四探针测试计 特点 仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零 数字式四探针测试计 测量范围 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω 可测半导体材料尺寸 直径：Φ15～100mm； 长（或高）度： ≤400mm 电源功 耗：外形尺寸 主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H） 北京恒奥德仪器仪表有限公司 联系方式：/57696...

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数字式四探针测试计/四探针测试计/产品　型号：SZB-SX1934B产品特点 仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零 测量范围 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω 可测半导体材料尺寸 直径：Φ15～100mm； 长（或高）度： ≤400mm 电源功 耗：外形尺寸 主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）

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数字式四探针测试计/四探针测试计/产品　型号：TG-SX1934B 产品特点  仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零  测量范围 电阻率：10-2～102Ω-cm； 方块电阻：10-1～103Ω/□； 电阻：10-3～9999Ω  可测半导体材料尺寸  直径：Φ15～100mm； 长（或高）度： ≤400mm  电源 功 耗：电源适配器：输入:220V±10% 50Hz；  输出:DC5V±10%  外形尺寸  主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）