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- 型号: KDK-KDY-1A
- 产地:北京
- 供应商:北京恒奥德仪器仪表有限公司
便携式四探针产品 四探针产品 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号:KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%,在此范围内达到国家标准一级机的水平。 四探针电阻率测定仪 型号:KDK-KDY-1A测量范围:可测量 电阻率:0.01~199.9Ω•cm。可测方块电阻:0.1~1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示...
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四探针产品/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/产品 厂家 型号:JH-WSP-11一、 测试步骤1、连接好测试探头电缆与主机,接上电源。2、仪器显示开机界面“-J-H-”,等待几秒钟进入测试界面。3、调节厚度,按‘+’、‘-’调节,如图所示,数值为3.98mm。 4、用四探针接触硅材料,以探针压下三分之二为准,待仪器显示数字稳定即可。单位为 Ω·cm。5、停止测量或者超量程时显示“--”。 二、参数指标1、供电电源:220V±10% 50Hz AC2、 电阻率测量范围 0.01~999.99 Ω·cm 三、测试四探针笔一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须...
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半导体产品/四探针产品/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/产品型号:LDX-JH-WSP-6LDX-JH-WSP-6型半导体产品是专用于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米,是生产厂家硅料分选测试的理想工具。1、 主要技术指标:电源:220V交流可测晶片直径(zui大)Ф100mm,方形230×220mm恒流源:电流量程为0.01~1mA连续可调,误差≦±0.5%。数字电压表:量程:0.1~200mV,zui大分辨率:100μV电阻率显示:三位半数字显示:小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米输入抗阻:0.2mV和2mV量程:>108Ω测量精度:±0.1。zui大电阻测量误差(按JJG508-87进行):0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。...
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