供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

产品 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示...

供应商：北京恒奥德科技有限公司

产品 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1m...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

产品 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A  概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0....

供应商：辽宁赛亚斯科技有限公司

辽宁KDY-1A产品价格，产品厂家 1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。 2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。 3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）      方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能） 4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。辽宁KDY-1A产品价格，产品厂家 5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；      整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。      测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

产品 便携式四探针电阻率检测仪 型号:DL04-KDY-1A 概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：...

供应商：北京北信未来电子仪器有限公司

产品 便携式四探针电阻率测量仪 便携式四探针电阻率检测型号:DL04-KDY-1A 概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～1...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

 产品 便携式四探针电阻率测量仪 便携式四探针电阻率检测型号:DL04-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

 产品  便携式四探针电阻率检测仪     型号:DL04-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源...

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

产品  便携式四探针电阻率检测仪      型号:DL04-KDY-1A 概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

类型产品品Pai恒奥德 型号KDK-KDY-1A测量范围0.01～199.9Ω•cm（MΩ） 产品 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%，在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω•cm。可测...