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- 型号: DL04-KDY-1A
- 产地:北京
- 供应商:北京北信科仪分析仪器有限公司
产品便携式四探针电阻率测量仪便携式四探针电阻率检测型号:DL04-KDY-1A 概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%,在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围:可测量电阻率:0.01~199.9Ω•cm。可测方块电阻:0.1~1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。(2)恒流源:输出电流:DC 0.1mA~10mA分...
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KDK-KDY-1A 便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪
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本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。它主要由电器测量部份(主机)及四探头组成,需要时可加配测试架。为减小体积,本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供,随时可进行校准,以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1~100Ω•cm标准样片的测量瓿差不超过±3%,在此范围内达到国家标准一级机的水平。测量范围:可测量 电阻率:0.01~199.9Ω•cm。可测方块电阻:0.1~1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω•cm数字表显示0.00。(2)恒流源:输出电流:DC 0.1mA~10mA分两档10mA量程:0.1~1mA 连续可调10mA量程:1mA ~10mA连续可调恒流精度:各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片(3) 直流数字电压表测量范围:0~199.9mv灵敏度:100μv准确度:0.
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GSZ-RTS-2 四探针测试仪(便携式)/四探针电阻率测试仪 厂家
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四探针测试仪(便携式)/四探针电阻率测试仪/四探针测定仪 厂家 型号:GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 仪器采用了Z新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。 本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)生产厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。 带把手四探针探头技 术 指 标 :便携式四探针测试仪按测量范围可选配RTS-2型或RTS-2A型,区别: