供应商：济南思克测试技术有限公司

济南思克测试技术有限公司：品Pai【SYSTESTER】型号：THI-1801测厚仪（又称思克产品 高精度薄膜厚度仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353思克产品 高精度薄膜厚度仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 THI-1801测厚仪思克产品 高精度薄膜厚度仪技术指标：测量范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm 测量速度：15次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） ...

供应商：济南思克测试技术有限公司

济南思克测试技术有限公司：品Pai【SYSTESTER】型号：THI-1801测厚仪（又称膜厚测量仪,产品,测厚仪,纸张测厚仪,芯片测厚仪等）检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353膜厚测量仪,产品,测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 THI-1801测厚仪膜厚测量仪,产品,测厚仪技术指标：测量范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）分 辨 率：0.1μm 测量速度：15次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面...

供应商：济南三泉中石实验仪器有限公司

    薄膜膜厚测试仪CHY-U 塑料产品主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成，专业名称为测厚仪。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。塑料产品    主要参数    仪器型号：CHY-U    其他名称：薄膜膜厚测量仪、薄膜测厚仪、薄膜厚度仪等    测量范围：0-2mm （其他量程可定制）    分辨率 ：0.1um    测量速度：10 次/分（可调）    测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）    接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种    进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)    进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)    外形尺寸：4...

供应商：济南兰光机电技术有限公司

◆ 产品关键词： 【产品】【薄膜厚度仪】【薄膜测厚仪】【台式测厚仪】【塑料薄膜厚度测试仪】【薄膜厚度测定仪】【薄膜厚度计】【薄膜厚度检测仪器】【高精度测厚仪】【高精度薄膜测厚仪】【机械接触式测厚仪】【机械式测厚仪】◆包装材料薄膜厚度的检测意义塑料包装材料厚度是否均匀，是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均匀，会影响到材料的阻隔性能、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。包材行业，薄膜厚度的仲裁测量方法即为机械接触式测量，选用机械接触式高精度测厚仪，测试薄膜材料的厚度。在此为客户推荐Labthink兰光生产的CHY-C2或CA高精度测厚仪。以下是对Labthink兰光（www.labthink。。ｃｏｍ）研发生产的CHY-C2A产品进行详细的介绍。CHY-C2A产品采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚...

供应商：济南三泉中石实验仪器有限公司

　　　　包装薄膜主要是起着产品保护作用，商家为了方便运输，往往在产品上包裹上一次薄膜。包装薄膜的厚度不均匀的话就可能对薄膜的物理性能造成影响。为了保证运输包装的可靠性，济南三泉中石实验仪器有限公司研发生产了包装产品。　　一个小小的塑料包膜，如果薄膜的整体厚度均匀性差，其中各层树脂的厚度分布也会存在差异。毫无疑问，对涂层厚度的检测将更有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想精确测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。济南三泉中石实验仪器有限公司的性价比高，价格便宜，是理想的检测设备。　　技术参数　　测量范围:0-2mm （其他量程可定制　　分辨率:0.1um　　测量速度:10次/min（可调）　　测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）　　接触面积:50mm2（薄膜），...

供应商：东莞市中益创天仪器设备有限公司

数显产品 纸张纸板测厚仪 高精度纸张厚度测定仪 产品说明：厚度仪是厚度测定的专用测试仪器，其主要技术参数和性能指标均符合标准的有关规定，广泛用于纸张、纸板、薄膜、无纺布、及其他片状材料、瓦楞纸板的厚度测定。本仪器符合以下标准：QB/T 1035《纸与纸板厚度测定仪》；QB/T 451.3《纸和纸板厚度的测定法》；QB/T 1055《纸与纸板厚度测定仪》；ISO 534《纸和纸板-单层厚度的测定以及纸板紧度的计算方法》；ISO 438《纸-层积厚度和紧度测定》。 数显产品 纸张纸板测厚仪 高精度纸张厚度测定仪   产品参数： 测量范围 （0～4）mm，分度值0.01mm接触压力（100±10）kPa接触面积（200±5）mm2测量面平行度 ≤0.005mm示值误差 ±0.05％  

供应商：济南恒品机电技术有限公司

数显产品 纸张纸板测厚仪 恒品高精度纸张厚度测定仪  济南恒品纸板厚度测定仪是根据接触测量法原理，广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定。因显示方式不同分为：指针式、数显式。数显产品 纸张纸板测厚仪 恒品高精度纸张厚度测定仪纸板厚度测定仪产品特点：  1、手动型，结构小巧，携带轻便，结实耐用。  2、测量表头有指针式和数显式两种可供选择。  3、测量范围大，测SY途广泛。纸板厚度测定仪符合标准：  1、《GB/T  451.3    纸和纸板的厚度测定法》。  2、《GB/T  6547    瓦楞纸板厚度的测定方法》。HP-HDY18型  纸板厚度测定仪主要技术参数：    1、测量范围：指针式为0mm～18mm，。    2、分辨力：  0.01 mm  （或0.001 mm）。    3、接触压力：20±0.5kPa。    4...

供应商：济南新准仪器设备有限公司

ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极Z常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。济南新准生产的CHY-C2A测厚仪适用于ITO薄膜厚度测量采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性，测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差，系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定，实时显示测量结果的值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行

供应商：北京燕京电子有限公司

仪器介绍 SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。测量原理如下：在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光，这时光的一部分在膜的表面反射，另一部分透进薄膜，然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraT

供应商：孚光精仪公司

光学产品在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS），实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。这款薄膜测厚仪,光学薄膜测厚仪,产品用于测量聚合物薄膜和光致抗蚀剂薄膜在加热或制冷情况下薄 膜厚度和光学常量（n, k）的变化。为了这种特色的测量，我们特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature （Tg）, ，热分解温度thermal degradation temperature （Td） ，薄膜的厚度测量范围也高达10nm－－100微米。 详情浏览： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.htm...