产品介绍: ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪 仪器介绍 ZJD-B全数字显示介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。 ZJD-B数字式介电常数及介质损耗测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.技术参数信号源频率范围DDS数字合成 10KHz-60MHzQ测量范围1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比6000:1Q分辨率4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度3X10 -5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差
产品简介:GDAT-A介电常数及介质损耗测试仪 塑料产品参数、报价仪器介绍 GDAT-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。 塑料产品参数、报价技术参数1 Q值测量范围:5~999 Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档或手动换挡 误差:25kHz~10MHz ≤5%±满度值的2% 10MHz~50MHz ≤7%±满度值的2%2 电感测量范围:0.1μH~1H 分七个量程3 电容测量范围:1PF~460PF 主电容调节范围:40PF~500 PF 准确度:150PF以下±1.5PF...
产品简介:一 塑料产品北京厂家工作特性1. 平板电容器极片尺寸:φ25.4mm极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm2. 园筒电容器电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm3. 夹具插头间距:25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时) 二. 塑料产品北京厂家工作原理本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。 三. 使用方法1. 被测样品的准备被测样品要求为园形,直径25....
产品简介: 塑料产品高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的zui佳解决方案。塑料产品概述:在每个高压实验室和试验中,压缩气体标准电容器是一种必要的仪器。在这些场合中,它有许多重要的作用。在电桥电路中压缩气体电容器被用来测量电容器、电缆、套管、绝缘子、变压器绕组及绝缘材料的电容和介质损耗角正切值(tgδ)。而且,还可以用作高压测量电容分压装置的高压电容。在某些条件下,还可以在局部放电测量中作高压耦合电容器。 塑料产品仪器特点:☆接线简单(正接法两根线,反接可...
产品简介: 塑料产品北广精仪公司是一家专业从事检测仪器,自动化设备生产的高新科技企业公司,一、塑料产品满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术:双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,...
产品简介: 产品型号:GDAT-A 一.主要特点:空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 二.主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路
产品简介:GBT1409-2006电气绝缘产品一、遵守的技术标准:《JJG563-2004高压电容电桥检定规程》《JB1811-92压缩气体标准电容器》《GB1409-2006固体绝缘材料相对介电常数和介质损耗因数的试验方法》高压电桥主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成,本电桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损(tgδ)及介电常数(ε)。介电常数介质损耗测试仪适用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。GBT1409-2006电气绝缘产品二、 概述主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。主要可以测量电容器、互感器、变压器、绝缘纸、电容器薄膜等各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量( Cx),其测量线路采用“正接法”即...
产品简介: 产品名称:高分子产品产品型号:ZJD-B、ZJD-C、QS-37符合标准:GB/T1409、GB/T5594产品用途:固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料:橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围:10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置:主机Q表、夹具、电感组成测试项目:介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群:科研所、教学、质量监督局、单位等付款方式:全款发货产品品Pai:航天纵横产品货期:1-3个工作日产品类别:电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号;在有修订的情况下,为上一次的修订年号;圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号...
产品简介: 北京航天纵横检测仪器有限公司一、概述:ZJD-B型 陶瓷产品 是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数(ε ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 二、测试原理:采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q 值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q 表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q 值,电感器的电感量...
产品简介: 本公司今日报道:绝缘产品高频4.2.4电场强度存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关。5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数,Z好采用板状试样,也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时,大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚度应足够大,以满足测量所需要的度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的度来讲,1.5mm的厚度就足够了,但是对于更高度,Z好是采用较厚的试样,例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的...
产品简介:机台型号:ZJD-A型 绝缘产品一、简介:ZJD-A型 绝缘产品 由S916测试装置(夹具)、ZJD-B/C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入ZJD-B或ZJD-C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用ZJD-B或ZJD-C数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。ZJD-C介电常数/介质损耗测试系统系统组成:二、...