供应商：北京富瑞恒创科技有限公司

电子产品  平整度及半导体基片测量仪型号：BGS-6341北京BGS-6341电子产品现货供应产品简介:生物标本安全转移箱 北京BGS-6341电子产品现货供应该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多，能给出全场面型分布结果制药级液体采样器 ，适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理，可实时观测面型的分布，迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置，及时淘汰早期失效产品。北京BGS-6341电子产品现货供应产品特点国际SC的错位相移技术计算机自动条纹处理测试过程全自动先进的曲面补偿测试原理技术指标样品尺寸：≤10...

供应商：北京北信未来电子仪器有限公司

电子产品 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪型号JC06-DZ该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。主要技术指标Z大样品尺寸≤100mm(4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC220V±10%,50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm×680mm...

供应商：轩泰仪（北京）科技有限公司

商品编号：XTY5100420 商品名称：电子产品详细介绍：Z大样品尺寸≤100mm (4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC 220V±10%, 50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm×680mm×450mm重量36kg

供应商：北京北信科仪分析仪器有限公司

电子产品 基片曲率半径测量测试仪 光学零件平整度面形检测仪 微电子生产半导体基片检测仪型号JC06-DZ该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多,能给出全场面型分布结果,适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理,可实时观测面型的分布,迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置,及时淘汰早期失效产品。主要技术指标Z大样品尺寸≤100mm(4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC220V±10%,50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm×680mm...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

电子产品 型号：BGS-6341电子产品 该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率 半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。计算机自动条纹处理测试过程全自动先进的曲面补偿测试原理Z大样品尺寸≤100mm (4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC 220V±10%, 50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)28...

供应商：北京中慧天诚科技公司

电子产品 型号：HFGS-6341货号：ZH9912产品简介: 该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多，能给出全场面型分布结果，适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。 仪器基于干涉计量的全场测试原理，可实时观测面型的分布，迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置，及时淘汰早期失效产品。 产品特点 国际SC的错位相移技术 计算机自动条纹处理 测试过程全自动 先进的曲面补偿测试原理 技术指标 Z大样品尺寸：≤...

供应商：北京中慧天诚科技公司

电子产品 型号：ZH9912 产品简介: 该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多，能给出全场面型分布结果，适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。 仪器基于干涉计量的全场测试原理，可实时观测面型的分布，迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置，及时淘汰早期失效产品。 产品特点 国际SC的错位相移技术 计算机自动条纹处理 测试过程全自动 先进的曲面补偿测试原理 技术指标 Z大样品尺寸：≤100mm (4英寸)...

供应商：北京恒奥德科技有限公司

电子产品 型号：BGS-6341该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率 半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。国际SC的错位相移技术计算机自动条纹处理测试过程全自动先进的曲面补偿测试原理Z大样品尺寸≤100mm (4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC 220V±10%, 50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm...

供应商：北京恒奥德仪器仪表有限公司

电子产品 型号：BGS-6341该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。国际SC的错位相移技术计算机自动条纹处理测试过程全自动先进的曲面补偿测试原理Z大样品尺寸≤100mm (4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC 220V±10%, 50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm×...

供应商：北京同德创业科技有限公司

电子产品 型号：TRC-6341该产品主要应用在微电子、光电子生产线上和科研、教学等领域Si、Ge、GaAs等半导体基片及电子薄膜应力分布、光学零件面形和平整度面形、 基片曲率 半径测量测试。该仪器总测量点数多, 能给出全场面型分布结果, 适合于微电子生产线上产品质量的快速检验和微电子生产工艺研究。仪器基于干涉计量的全场测试原理, 可实时观测面型的分布, 迅速了解被测样品的形貌及应力集中位置, 及时淘汰早期失效产品。创的错位相移技术计算机自动条纹处理测试过程全自动先进的曲面补偿测试原理Z大样品尺寸≤100mm (4英寸)曲率范围|R|≥5米测试精度5%单片测量时间3分钟/片结果类型面形、曲率半径、应力分布、公式表示、数据表格图形显示功能三维立体显示、二维伪彩色显示、单截面曲线显示电源AC 220V±10%, 50Hz±5%Z大功耗100W外型尺寸(L×W×H)285mm×68...