-
-
原位薄膜应力测量仪
- 品牌:深圳科时达
- 型号: 11
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 深圳市科时达电子科技有限公司 更新时间:2024-03-28 06:35:08
-
企业性质一般经销商
入驻年限第3年
营业执照已审核
- 同类产品日本Microphase 原位薄膜应力测量仪(1件)
联系方式:林建军0755-29852340
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
- 详细介绍
- 产品优势
- 采用非接触激光MOS技术;不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析,而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析;客户可自行定义选择使用任意一个或者一组激光点进行测量;并且这种设计始终保证所有阵列的激光光点始终在同一频率运动或扫描,从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响;同时大大提高了测试的分辨率;适合各种材质和厚度薄膜应力分析。
- FSM128非接触薄膜应力测试
- Toho FLX-2320-S薄膜应力计
- FSM128 FSM413薄膜应力及基底翘曲测试设备
- 薄膜应力测量仪
- 美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 128
- 美国Frontier Semiconductor 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 500TC
- 美国Frontier Semiconductor 薄膜应力和硅片翘曲检测仪
- 薄膜应力量测仪Line Card
- 薄膜应力及基底翘曲测试设备FSM 128
- 薄膜应力和硅片翘曲检测仪
- VMS-1510F/VFA上海长方进口影像测量仪
- VMS-1510FA上海长方进口影像测量仪