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日本Microphase 薄膜热应力测试系统Thermal Scan
- 品牌:深圳科时达
- 型号: Thermal Scan
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 深圳市科时达电子科技有限公司 更新时间:2024-04-22 22:17:17
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企业性质一般经销商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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联系方式:林建军0755-29852340
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- 详细介绍
- 产品优势
- 该设备已经广泛被全球著名高等学府(如:Harvard University 2套,Stanford University,Johns Hopkins University,Brown University 2套,Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute,西安交通大学等)、半导体制和微电子造商(如IBM.,Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC,Nissan ARC,Nichia Glass Corporation)等所采用。