大型高低温试验箱检测集成电路的实验方案

温度范围： -70℃ 至 +150℃ 。

温度均匀度： ±2℃ 。

升温/降温速率： 可调节，升温速率不低于 5℃/min，降温速率不低于 3℃/min 。

包括电源、信号发生器、示波器、逻辑分析仪等。

用于记录温度和集成电路的性能参数。

对集成电路进行外观检查，确保无明显缺陷。

对大型高低温试验箱进行预热和校准，确保温度控制准确。

将集成电路安装在测试夹具上，连接好测试设备。

在常温（25℃）下，对集成电路进行功能测试，记录其各项性能参数，如工作电压、电流、频率、逻辑电平、输出信号等。

将集成电路放入大型高低温试验箱中，设置温度为 -70℃ ，以一定的降温速率降温至目标温度，并保持一定时间。

在低温环境下，对集成电路进行性能测试，记录数据。

从 -70℃ 升温至 +150℃ ，以一定的升温速率升温至目标温度，并保持一定时间。

在高温环境下，对集成电路进行性能测试，记录数据。

设定多个温度循环，如从 -70℃ 升温至 +150℃ ，再降温至 -70℃ ，每个循环保持一定时间。

在每个循环结束后，对集成电路进行性能测试。

将集成电路从试验箱中取出，恢复至常温。

再次对集成电路进行常温性能测试，与实验前的常温性能数据进行对比。

在实验过程中，通过数据采集系统实时采集试验箱内的温度以及集成电路的各项性能参数。

分析集成电路在不同温度条件下的性能变化趋势。

比较低温、高温和温度循环测试前后集成电路性能参数的差异。

根据数据分析结果，评估集成电路的温度适应性和可靠性。