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仪器网/ 应用方案/ X荧光光谱仪在高炉生铁快速分析中的应用

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X荧光分析属无损表面分析,分析面为30mm的圆片,为了确保准确性,要求生铁样品成分均匀,无偏析,表面光洁度好由于生铁中非金属元素含量高,试样采取时易偏析,为了得到成分均匀试样块,必须在试样块浇铸时,保证试样的白口化,另外保证试样无夹渣气泡缩孔等 尼通(NITON)XL5手持式合金分析仪

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